판매용 중고 STS 40TS #9195601

STS 40TS는 고속 아날로그 (디지털 시스템) 의 전반적인 특성을 제공하는 전자 테스트 장비입니다. 가장 까다로운 고속 장애 격리 (fault isolation) 요구 사항에 필요한 모든 범위의 자동/수동 장비 테스트 및 장애 격리 기능을 제공합니다. 40TS는 시스템의 데이터 흐름을 정확하게 특성화하고 분석할 수 있으며, 회로 기판 아키텍처, 컴포넌트 선택, 회로 무결성, 신호 전파 속도 등의 요소를 파악하는 데 도움이 됩니다. 이 정교한 장치는 최대 3.3 기가헤르츠 (Gigahertz) 의 속도로 작동하는 디지털 시스템을 테스트할 수 있으며, 다음을 포함한 다양한 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 신호 상승 및 추락 시간, 전압 스윙, 신호 눈 다이어그램 및 신호 간 교차 토크. 정밀 타이밍 분석기를 사용하여 신호 매개변수를 정확하게 측정하며, 고속 트리거링, 고급 독립 클럭 소스 동기화, 반복 가능한 파형 측정 기능, 반복 가능한 시스템 수준 타이밍, 신호 무결성 테스트 등을 포함합니다. STS 40TS 는 기능 툴의 진단 및 문제 해결을 돕는 기능을 갖추고 있으며, 디바이스별 분석을 위한 다양한 내장 애플리케이션 테스트 (Bist-In Application Test) 를 제공합니다. 스큐 (skew), 지터 (jitter), 클럭 복구, 노이즈, 타이밍 전진 및 반사와 같은 다양한 물리적 레이어 매개변수를 분석하고 측정 할 수 있습니다. 또한 자산 기능 테스트를 시뮬레이션하여 신호 사이의 크로스토크를 감지하여 오류 (fault) 식별을 가능하게 합니다. 또한 40TS는 내장 오류 감지 및 성능 특성 기능을 제공합니다. 기능 테스트 중에 모델 오류를 기록, 표시하며, 잠재적인 장비 또는 부품 장애에 대해 사용자에게 알릴 수 있습니다 (영문). 또한 시스템 수준 데이터 분석 (System Level Data Analysis) 을 통해 추세 분석을 통해 성능 저하를 진단하거나 잠재적 문제를 파악할 수 있습니다. STS 40TS에는 정교한 소프트웨어 플랫폼 (software platform) 이 포함되어 있으며, 다른 시스템에 다양한 연결을 제공하고, 그 측정을 통해 다양한 엔지니어링 툴 및 환경과 상호 작용할 수 있습니다. JTAG, PCI Express 및 GET 프로토콜을 포함한 다양한 통신 프로토콜을 지원합니다. 이 테스트 장비는 신뢰성이 높으며, 탁월한 정확성과 테스트 반복 기능을 제공합니다. 전반적으로, 40TS는 고속, 아날로그-디지털 시스템의 특성과 문제를 해결하도록 설계된 업계 표준 전자 테스트 장치입니다. 여기에는 시스템 성능, 오작동, 장애 등을 정확하게 파악하고 분석할 수 있는 강력한 기능들이 포함되어 있습니다 (영문). 견고한 오류 감지 기능과 안정적인 시뮬레이션 (Simulation) 기능을 제공하여 시스템 성능을 예상대로 보장합니다. 또한, 고급 기능과 다양한 통신 프로토콜을 통해 최상위 (top-of-the-line) 테스트 툴이 됩니다.