판매용 중고 ROHDE & SCHWARZ RTE #9261791

ROHDE&SCHWARZ RTE는 타이밍 및 동기화 문제의 연구 및 분석을 위해 설계된 전자 테스트 장비입니다. 지터 (jitter) 와 방황 (wander) 매개변수를 정확하게 측정하고 제어할 수 있는 강력한 솔루션을 제공합니다. 이 장비는 발진기 주파수, 위상 노이즈, TDM 및 SONET/SDH 응용 프로그램의 다양한 지터 (jitter) 및 방황 (wander) 값 등 다양한 매개변수를 측정하고 분석 할 수 있습니다. 실시간으로 전송 링크의 품질을 모니터링할 수 있으며, PLL, BER 및 EVM을 평가할 수 있는 TDM (Time Division Multiplexing) 패턴을 생성할 수 있습니다. RTE는 10Hz ~ 20GHz 주파수를 측정할 수 있는 견고하고 안정적인 테스트 장비입니다. 최대 1.5 GHz 대역폭의 고해상도 오실로스코프 (Oscilloscope) 와 8 GSa/s의 샘플링 속도는 많은 고속 신호 발생기 및 수신기 측정에 적합합니다. 저소음 신호 생성기와 지터 (jitter), 주기 지터 (period jitter) 및 주파수 지터 (frequency jitter) 를 측정 할 수있는 광범위한 측정 기능이 특징입니다. 이 장치는 지연 지연 루프 및 위상 잠금 루프 측정을 제공하며 대기 시간이 짧은 지연 측정은 0.1 ° s입니다. 또한 노이즈 내성 true rms로 진폭과 전압을 측정 할 수 있습니다. 안정적인 결과로 인해 ROHDE&SCHWARZ RTE는 다른 외부 시스템과 네트워크 간의 신호 무결성, 타이밍, 동기화 요구를 확인하고 정량화하는 데 사용됩니다. 최대 10 기가비트 속도의 지터 (jitter) 및 방황 (wander) 성능을 측정할 수 있으며 광섬유 네트워크, 통신 컨트롤러, 미디어 서버 등 다양한 애플리케이션에서 지터를 측정할 수 있습니다. 또한 많은 실시간 모니터링/성능 정보를 생성하여 시스템의 성능을 이해하고 진단할 수 있습니다. 실험실 응용에 이상적인 RTE는 최소 설정이 필요하며 주파수 카운터, 신호 생성기, 트랜시버 등 다른 외부 장비와의 통합이 용이합니다. 범용 어플리케이션을 위해 설계되었으며 NI-VXI 및 LXI 호환 표준, 이더넷, USB 및 GPIB 연결 기능을 통해 모든 외부 장비를 연결할 수 있습니다. 이를 통해 매우 정확하고 정확한 측정이 가능합니다. 전반적으로 ROHDE&SCHWARZ RTE는 광범위한 연구 기관, 실험실, 데이터 센터 및 통신에 이상적인 선택입니다. 편리한 인터페이스 (interface) 와 결합된 정확성과 안정성을 통해 사용하기 쉽고 강력한 타이밍/동기화 (timing/synchronization) 툴을 원하는 모든 사용자가 선택할 수 있습니다.