판매용 중고 ROHDE & SCHWARZ CBT #9122346
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ROHDE&SCHWARZ CBT는 정확하고 안정적인 테스트 및 측정 데이터를 제공하기 위해 설계된 전자 테스트 및 측정 장비 시리즈입니다. CBT 시리즈는 6 가지 테스트 기기로 구성됩니다. VNA (Vector Network Analyzer), SA (Spectrum Analyzer), SG (Signal Generator), PM (Power Meter), PA (Power Analyzer) 및 FC (Frequency Counter) 입니다. VNA (Vector Network Analyzer) 를 사용하면 신호 경로의 주파수 응답을 측정하고 게인, 위상 및 삽입 손실 매개변수를 쉽게 계산할 수 있습니다. 0.4GHz에서 6GHz까지의 넓은 주파수 범위, 최대 -145dBm의 높은 동적 범위, 낮은 DANL의 -170 dBm 메모리 깊이, 최대 2M 및 저상 소음이 -100dBc/Hz 최대 6GHz인 이중 포트를 제공합니다. VNA는 0.18um CMOS, 자동차, 무선 통신, WLAN 및 전자 레인지와 같은 다양한 응용 프로그램에서 사용할 수 있습니다. SA (Spectrum Analyzer) 는 신호 소스의 주파수 또는 전원 수준을 측정하는 데 사용됩니다. 넓은 주파수 범위가 0.1GHz ~ 6GHz, 4 자리 해상도 및 낮은 소음 바닥 (-145dBm) 인 SA는 무선 및 전자 레인지 신호의 주파수, 진폭 및 신호 대 소음 비율을 측정하는 데 적합합니다. 또한 아날로그 및 디지털 시스템 문제 해결, EMI/EMC 테스트 수행, 변조된 신호 분석, 레이더 시스템 분석에 사용될 수 있습니다. SG (Signal Generator) 는 테스트 목적으로 다양한 신호를 생성하는 데 사용됩니다. SG는 사용자 정의 가능한 신호 진폭, 페이딩, AWGN, 변조 형식, BER 및 사인형 신호를 통해 250kHz ~ 6GHz의 정확하고 넓은 주파수 범위를 제공합니다. 또한 낮은 왜곡, 낮은 소음 수준을 통해 정확한 테스트, 시간 절약, 내장 기능, 까다로운 어플리케이션을 위한 여러 가지 저상 소음 출력을 제공합니다. Power Meter (PM) 는 아날로그 및 디지털 응용 프로그램 모두에서 신호 진폭을 측정하는 데 사용됩니다. 이 기기의 주파수 범위는 0.1GHz ~ 6GHz이고, 동적 범위는 최대 -140dBm이며, RF 및 마이크로파 전력 측정 문제를 해결하는 데 적합합니다. 또한, 이 파워 미터 (power meter) 는 시간이 지남에 따라 전원 수준을 그래픽으로 표시하여 펄스 진폭 (pulse amplitude) 측정에 이상적입니다. Power Analyzer (PA) 는 아날로그 및 디지털 응용 프로그램 모두에서 신호의 힘을 측정하도록 설계되었습니다. 이 기기는 0.1GHz ~ 6GHz 범위의 넓은 주파수와 최대 -145dBm (최대 -145dBm) 의 높은 동적 범위를 제공하여 모든 유형의 전력 측정 응용 프로그램에 적합합니다. 또한 AC + DC, 크레스트 인자, 플럭스 밀도 및 전력 밀도와 같은 다양한 측정 매개변수와 일정한 전류, 변조, 고조파 왜곡 등 다양한 측정 유형이 특징입니다. ROHDE&SCHWARZ CBT 시리즈 주파수 카운터 (FC) 는 sinusoidal 및 pulse 파형의 주파수를 측정하도록 설계된 강력한 기기입니다. 이 매우 정확한 주파수 카운터는 0.3GHz ~ 6GHz의 넓은 주파수 범위, -145dBm의 저소음 바닥, 최대 0.01Hz의 높은 정확도를 갖습니다. 또한 이 기기에는 주파수 측정의 경우 모드 A 및 B부터 주파수 주기 (Frequency Period), 평균 주파수 (Average Frequency) 및 펄스 너비 (Pulse Width) 측정 모드까지 다양한 모드가 장착되어 있습니다. 전반적으로 CBT 시리즈는 강력한 일련의 테스트 및 측정 장비로, 자동차, 무선 통신, WLAN, 전자 레인지 등 다양한 애플리케이션에 대해 정확하고 안정적인 데이터를 제공합니다. 넓은 주파수 범위, 저소음 바닥, 높은 동적 범위, 다양한 측정 기능을 갖춘 이 시리즈는 RF 및 마이크로파 (microwave) 테스트를 해결하고 다양한 측정 문제를 해결하는 데 적합합니다.
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