판매용 중고 POLYTEC VCT 72 / OFV-T-031 #198306

ID: 198306
Camera and Test Stand for Fiber Probes VCT -72 Color Zoom Camera: Integrated 18x Zoom Lens 4x Digital Zoom Autofocus High Resolution Digital Signal Processing Back Light Compensation RS-232 Interface Based on Sony Camera Module OFV-T-031 Test Stand for Fiber Probes.
POLYTEC VCT 72/OFV-T-031은 다양한 전자 부품 및 시스템의 테스트 및 문제 해결을 위해 특별히 설계된 작고, 인체 공학적으로 설계되고, 핸드 헬드, 이중 채널 신호 분석기입니다. 이 장치에는 최대 2 개의 신호를 한 번에 테스트하기 위해 고해상도 LCD, 다중 주파수 범위, 2 개의 작동 채널이 제공됩니다. 다양한 파형 캡처 (waveform capture) 및 디스플레이 (display) 기능을 통해 테스트 신호를 상세하게 평가하고 특성화할 수 있습니다. VCT 72/OFV-T-031에는 다양한 신호 입력 및 출력 포트가 있어 다양한 테스트 시스템과 인터페이스 할 수 있습니다. 여기에는 선택한 소스에서 신호를 디지털화하는 표준 입력 포트 (standard input port) 와 외부 테스트 (external test) 및 측정 장치 (measurement device) 에 연결하기 위한 다양한 출력 포트 (output port) 가 포함됩니다. 신호 측정은 두 채널 사이에서 또는 독립적으로 할 수 있습니다. 이 장치에는 최대 22.4 GHz 주파수의 신호를 감지하고 분석 할 수있는 강력한 신호 프로세서 (signal processor) 가 장착되어 있습니다. 또한 최대 40MHz 의 디지털 신호의 주파수-도메인 (frequency-domain) 동작을 감지하여 전체 신호를 정확하게 나타낼 수 있습니다. 또한, 신호 프로세서는 변조 된 신호의 주파수-도메인 분석을 지원하며, 신호의 진폭, 주파수, 듀티 사이클 (duty cycle) 을 독립적으로 제어합니다. POLYTEC VCT 72/OFV-T-031은 시간 도메인 (파형) 및 주파수 도메인 (스펙트럼) 측정 및 왜곡 분석을 자동으로 획득, 분석 및 표시 할 수 있습니다. 신호 및 고조파 왜곡 분석의 경우, VCT 72/OFV-T-031에는 큰 메모리와 다중 트리거 (multi-trigger) 기능이 있으며, 이를 통해 여러 레벨 및 시간 프레임 신호 캡처를 설정할 수 있습니다. 일반적으로 이 장치는 고속 신호 인식 (Rapid Signal Recognition) 및 라이브 파형 디스플레이 (Live Waveform Display) 를 지원하므로 복잡한 신호를 쉽게 가져오고 표시할 수 있습니다. 출력 인터페이스 지원에는 직접 아날로그 출력 (Direct Analog Output) 및 디지털 출력 인터페이스 (Digital Output Interface) 와 컴퓨터 연결을 위한 USB 및 이더넷 포트가 모두 포함됩니다. POLYTEC VCT 72/OFV-T-031에는 프로그램 및 설정에 빠르게 액세스할 수 있는 여러 가지 컨트롤 및 직접 액세스 단축키도 포함되어 있습니다. @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ @ LCD 터치스크린 디스플레이를 사용하여 모든 매개변수를 편리하게 표시하고 쉽게 조정할 수 있습니다. 기본 장치는 주 (main) 로 구성되며 이동을 위해 리튬 이온 배터리 팩이 내장되어 있습니다. 전반적으로 VCT 72/OFV-T-031은 다양한 신호 입력 및 출력 포트를 갖춘 고성능, 컴팩트하고 사용하기 쉬운 신호 분석기를 제공합니다. 최대 22.4 GHz 의 신호를 시간 도메인 (time-domain) 및 주파수 도메인 (frequency-domain) 분석할 수 있는 기능을 통해, 이 장치는 다양한 신호를 측정하고 특성화할 수 있으므로 다양한 전자 부품과 시스템을 테스트하고 해결하는 데 이상적입니다.
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