판매용 중고 MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 #293640895

MULTILANE ML 4054-400 Gen 2는 MULTILANE에서 개발 한 전자 테스트 장비 (ATE) 입니다. 이 ATE는 고속 디지털 장치 및 집적 회로 (IC) 를 특성화하기위한 즉시 사용 가능한 솔루션으로 작동합니다. 이 기기는 전례없는 수준의 구성 기능을 제공하여 운영자가 직렬 인터페이스 (Serial Interface) 와 데이터 프로토콜 (Data Protocol) 을 빠르고 쉽게 정의할 수 있습니다. 이 기능을 통해 사용자는 테스트 프로세스를 간소화하고, 개발 비용을 절감할 수 있습니다. ML 4054-400 Gen 2 ATE는 LVDS, CML, PCIe 및 HDMI와 같은 고속 디지털 및 혼합 신호 인터페이스를 지원합니다. 첨단 신호 품질 (signal quality performance) 을 통해 최대 16Gbps의 고속 신호를 포괄적으로 테스트할 수 있습니다. 이 장비는 또한 포괄적인 테스트 환경을 제공하여, 자동화된 장치 특성화 및 시스템 수준 시뮬레이션을 실행할 수 있습니다. 또한 ATE는 ESD, 전원 결함 (Power Glitche) 및 기타 일반적인 위협에 대한 완벽한 보호 기능을 통해 오늘날의 고속 애플리케이션의 엄격한 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계되었습니다. MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 ATE는 매우 프로그래밍 가능하여 DUT (Device Under Test) 에 맞게 장치를 구성해야 하는 하드웨어 설계자와 IC 디자이너에게 적합합니다. 기기는 차등 드라이브 수준 (differential drive level) 과 고속 신호 (high speed signal) 를 제어하여 테스트 매개변수를 설정할 때 최대 유연성을 제공합니다. 광범위한 스크립팅 (scripting) 및 스크립팅 (scripting) 기능을 통해 사용자는 시스템을 빠르고 쉽게 프로그래밍하여 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 ATE는 다양한 유연한 트리거링, 동기화 및 제어 기능을 제공하여 테스트를 자동화합니다. ML 4054-400 Gen 2 ATE에는 여러 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 포함되어 있어 빠르고 쉽게 설치 및 구성할 수 있습니다. 또한 임베디드 디자인 언어를 사용하여 기기를 ATS (Automated Test Tool) 로 사용할 수 있습니다. 이 기기는 독점 MPG (MULTILANE Pattern Generator) 와 연결되어 패턴 실행 프로세스를 단순화합니다. 또한 ATE는 로우 레벨 내장 펌웨어 작동을 지원하므로 기기가 여러 개의 I/O 핀을 효율적으로 제어할 수 있습니다. MULTILANE ML 4054-400 Gen 2 ATE에는 시뮬레이션 엔진 및 성능 지표 자산도 내장되어 있어, 디바이스가 제품 사양을 충족하는지 확인할 수 있습니다. 시뮬레이터 (Simulator) 는 사용자가 결과를 시각화하여 자신의 디자인이 어떻게 수행되는지 파악할 수 있도록 도와줍니다. 또한 데이터 분석 도구 (data analysis tools) 를 사용하여 설계를 보다 철저히 해결할 수 있습니다. ML 4054-400 Gen 2 ATE는 전자 테스트 및 특성화를위한 올인원 솔루션입니다. 고급 기능, 유연성, 프로그래밍성을 통해 고속 설계 및 특성화를위한 필수 불가결한 도구입니다.