판매용 중고 LAM RESEARCH 853-085375-015 #9356104

LAM RESEARCH 853-085375-015는 LAM RESEARCH Corporation에서 제조 한 전자 테스트 장비 모듈로, 반도체 장비의 자동 테스트를 제공하는 데 사용됩니다. 이 모듈은 집적 회로 (IC) 및 기타 전자 부품의 현장 테스트 및 교정을 위해 설계되었습니다. 853-085375-015 장치는 커패시터, 저항, 트랜지스터 및 다이오드와 같은 장치에 대한 정확한 테스트 및 계기 측정을 제공합니다. 수동 및 컴퓨터 기반 프로그래밍 옵션뿐만 아니라, 온보드 컨트롤로 쉽게 설치할 수 있습니다. 이 모듈의 주요 특징은 높은 정확성과 유연성 (Flexibility) 으로, 반도체 업계의 다양한 응용프로그램을 다룰 수 있습니다. 온도, 전압 및 전류 측정을 포함한 광범위한 테스트를 제공합니다. 또한 이 모듈에서는 문제 해결을 위한 데이터 로깅 및 그래프 기능을 사용할 수 있습니다. LAM RESEARCH 853-085375-015는 PCB (Premium Quality Printed Circuit Board) 를 사용하여 구성되며 회로 및 다양한 트랜지스터를위한 4 개의 칩 스케일 패키지를 포함합니다. 또한 고주파 신호 연결을위한 4 개의 고임피던스 동축 커넥터가 있습니다. 이 모듈에는 열 보호 (thermal protection) 가 통합되어 있어 과열 (overheating) 을 방지하며 혹독한 운영 환경에서 사용할 수 있습니다. 이 모듈은 널리 사용되는 USB 및 RS-232 프로토콜과 같은 다양한 통신 프로토콜을 통해 데이터 전송을 수행할 수 있습니다. 또한 이더넷 통신을 지원하므로 복잡한 테스트 시스템에 통합할 수 있습니다. 853-085375-015는 플라스틱 운반용 케이스와 함께 제공되어 전송 및 보관이 용이합니다. 또한 손쉬운 작동을 위한 내장형 LED 디스플레이가 있습니다. 이 모듈은 거의 모든 유형의 테스트 장비에 손쉽게 설치할 수 있으며, 3년 (3 년) 무상수리 (3 년) 가 제공됩니다. 전반적으로 LAM RESEARCH 853-085375-015는 다양한 반도체 응용 프로그램에 대한 정확한 계측 측을 제공하기 위해 설계된 고급 테스트 및 측정 장비 모듈입니다. 이 제품은 다양한 기능과 유연성을 제공하므로, 실습/운영 테스트 환경을 위한 최적의 솔루션이 될 수 있습니다.