판매용 중고 KEITHLEY 4200-SCS #293749947

ID: 293749947
Semiconductor Characterization System (SCS).
KEITHLEY 4200-SCS는 반도체 재료의 전기 특성을 정확하고 포괄적으로 분석하도록 설계된 고급 정밀 반도체 특성 시스템입니다. KEITHLEY 4200 SCS는 사용자 정의 가능한 사용자 인터페이스를 통해 광범위한 테스트 기능, 자동 측정 절차를 제공합니다. 강력한 아키텍처는 2 개의 정밀 소스/측정 장치와 PC 기반 컨트롤러를 결합하여 정확하고 일관된 장치 특성화를위한 플랫폼을 제공합니다. 4200-SCS에는 각각 단일 또는 이중 채널 작동을 제공하는 두 개의 SMU SourceMeter ® 기기가 포함되어 있습니다. SourceMeter 기기는 고대역폭 전류 및 전압 소싱, 동시 4 사분면 작동 및 측정 정확도 (최대 300V와 0.7fA 해상도) 를 제공합니다. 4200 SCS는 JEDEC 및 IEC 표준에 명시된 것과 같은 다양한 매개변수 및 테스트 방법을 지원하며, 열 일시적 측정 및 특성화를위한 3 개의 TempBridge 시스템을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 또한 유용한 자동 웨이퍼 핸들러 (automated wafer handler) 및 웨이퍼 및 패키지 테스트를 위한 샘플 캐리어 (sample carrier) 를 다양하게 지원합니다. KEITHLEY 4200-SCS에는 사용자의 테스트 기능을 향상시키는 몇 가지 소프트웨어 도구가 있습니다. 이러한 도구에는 프로그래밍 및 데이터 분석을 위한 강력한 GUI (Graphical User Interface), 자동 테스트 절차를 만들고 실행하는 KEITHLEY Measurement Manager, LabView 기기 및 응용 프로그램 만들기용 LabView ™ 플러그인이 포함됩니다. 프로그래밍 노력과 신속한 테스트를 줄이기 위해 KEITHLEY 4200 SCS에는 소스 측정 및 열 특성 테스트 시퀀스 라이브러리가 포함됩니다. 4200-SCS (4200-SCS) 는 정밀 설계와 기능을 갖춘 다목적 시스템으로, 전기적 매개변수를 정확하고 반복적으로 측정할 수 있습니다. 강력한 아키텍처, 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 기능 및 자동 웨이퍼 측정 (Automated Wafer Measure) 기능을 통해 광범위한 디바이스 특성화가 가능한 플랫폼을 제공합니다.
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