판매용 중고 KEITHLEY 4200-SCS/F #293645288

KEITHLEY 4200-SCS/F
ID: 293645288
Semiconductor characterization system (6) 4200-SMU High power SMU (6) 4200-PA Remote PreAmp 4200-SCP2 4205-PG2.
KEITHLEY 4200-SCS/F는 다이오드, 트랜지스터, 커패시터, 인덕터 및 저항기와 같은 반도체 웨이퍼 및 장치 테스트를 시작, 수행 및 자동화하는 전자 테스트 장비입니다. 이 시스템은 고속 테스트를 수행하고, 여러 기술 기능을 단일 플랫폼에 경제적으로 통합하여 테스트 시간을 줄이고, 수율을 개선할 수 있도록 설계되었습니다. 이 시스템은 메인프레임, PMU (Precision Measurement) 및 Probe 랙으로 구성됩니다. 메인프레임 (Mainframe) 은 시스템의 명령 및 제어 센터이며, 사용자가 제공된 소프트웨어를 통해 기기를 제어할 수 있습니다. 데이터 획득, 데이터 분석, 패턴 생성, 하드웨어 디버깅, 기기 측정 등 다양한 기능이 포함되어 있습니다. PMU (Precision Measurement Unit) 는 프로브로부터 입력을 획득하고 처리합니다. DC 측정, AC 측정, 펄스 측정, 디지털 측정, 동적 선형 측정, 소음 바닥 분석 등 다양한 기능을 제공합니다. 또한 이더넷, GPIB 및 USB 인터페이스를 기본적으로 지원합니다. Probe 랙에는 테스트 및 측정에 사용되는 Probe 카드와 센서가 저장됩니다. 프로브 카드, 프로브, 프로브 스탠드, 샘플 홀더, 정적 웨이퍼 핸들러, 웨이퍼 클립, 웨이퍼 클램프 등 다양한 액세서리가 제공됩니다. KEITHLEY 4200 SCS/F에는 강력한 자동 테스트 흐름이 있으며, 이를 통해 테스트는 빠르고 쉽게 구성할 수 있습니다. 자동 테스트 흐름에는 테스트 요소와 해당 속성에 대한 자세한 정보를 제공하는 다이어그램 (diagram) 과 도움말 파일 (help file) 이 포함된 단계별 가이드가 포함되어 있습니다. 사용자 지정 가능한 테스트 환경을 사용하면 테스트 조건을 신속하게 설정하고, 원하는 측정 매개변수를 선택하고, 원하는 테스트 순서를 지정할 수 있습니다. 테스트 결과는 다른 호환 시스템 (예: 데이터베이스, 스프레드시트, 텍스트 파일) 으로 신속하게 익스포트할 수 있습니다. 4200 SCS/F는 빠르고 정확한 측정이 필요한 높은 처리량 애플리케이션에 적합합니다. 디바이스 특성, 패라메트릭, 신뢰성 테스트, 프로세스 검증 등 다양한 애플리케이션이 있습니다. 또한, 견고성과 성능을 위해 설계되었으며, 모든 유형의 반도체 웨이퍼 (wafer) 및 장치 테스트에 적합합니다.
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