판매용 중고 HIOKI FT3470-51 #293639954

HIOKI FT3470-51은 테스트 중인 전자 부품의 임피던스 특성을 측정하기 위해 설계된 고성능 LCR 미터입니다. 4- 말단 기술로 인덕턴스 (L), 커패시턴스 (C) 및 저항 (R) 을 측정하도록 설계되었습니다. 4 단자 기술은 커패시터, 인덕터, 저항, 기타 장치 유형 등 다양한 구성 요소 유형을 측정 할 수 있습니다. 이 LCR 미터는 배터리 작동으로 구동되며 뛰어난 휴대성과 편리성을 제공합니다. FT3470-51은 고해상도 0.1mR 및 10fA를 제공하여 숭고한 정확도와 정밀도로 구성 요소 품질을 측정하는 데 이상적입니다. 이 제품은 100 Hz ~ 300 kHz 사이의 주파수에서 구성 요소 특성을 측정하기 위한 내장 주파수 스윕 (Frequency Sweep) 을 갖추고 있습니다. 사용자는 원하는 테스트 주파수 (Test Frequency) 와 다양한 측정 매개변수 (Measurement Parameter) 를 선택할 수 있습니다. 또한 이 장치에는 현재 테스트 상태 (Testing Status) 와 측정 (Measurement) 을 모니터링할 수 있는 디스플레이가 있습니다. 이 디스플레이는 보다 정확한 측정을 위해 3.5 자리 백라이트 LCD (액티브 컴포넌트 온도 보상) 를 제공합니다. 또한 HIOKI FT3470-51에는 200ms의 고정 측정 시간, 자동 널 감지, 오픈/쇼트 감지, 최대 20 개의 데이터 세트의 메모리 저장, Auto Off/Sleep Mode 등 여러 가지 유용한 기능이 통합되어 있습니다. FT3470-51 은 탁월한 애플리케이션 다용도 외에도 구성 요소 및 기능 라이브러리를 제공합니다. 이 라이브러리에는 300 개가 넘는 유용한 구성 요소와 데이터 분석 및 다른 장비와의 통신을 위한 R/C 정렬 (R/C sorting) 및 아날로그 출력 (analog output) 등의 기능이 포함되어 있습니다. 또한, 이 제품은 사용자가 구성 요소의 품질을 추적할 수 있도록 데이터 정렬 프로세스 (data sorting process) 의 결과를 표시할 수 있습니다. 결론적으로, HIOKI FT3470-51 LCR 미터는 전자 부품의 임피던스 특성을 측정하기위한 훌륭한 도구입니다. 0.1m/10 fA (고해상도) 의 고해상도, 사용자 친화적 LCD 디스플레이, 종합적인 구성 요소 및 기능 라이브러리를 갖춘 이 제품은 구성 요소를 정확하고 정확하게 측정할 수 있는 안정적이고 효율적인 장치를 제공합니다.