판매용 중고 HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48 #9402532

HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48 (HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48) 은 광범위한 업종에 사용되는 전자 테스트 장비 유형으로, 광범위한 전자 장치를 테스트, 문제 해결 및 디버그할 수 있도록 설계되었습니다. M1-UN-DP48 (M1-UN-DP48) 에는 다양한 형태의 디지털 테스트 및 분석을 수행하는 데 적합한 다양한 기능이 있습니다. HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48은 22 개의 테스트 모듈, 메인프레임 및 2 개의 전원 공급 장치로 구성됩니다. 메인프레임은 디바이스의 CPU 로, 모듈 간의 통신을 관리합니다. 테스트 모듈은 실제 테스트 절차 (예: 전원 공급 측정, 핀 연결, 매개변수 측정, 교정) 를 수행합니다. M1-UN-DP48에는 테스트 결과를 보기 위한 VGA 포트 (VGA 포트) 와 프로그래밍, 구성, 데이터 전송을 위한 USB 포트 (포트) 를 포함하여 고유하고 강력한 여러 가지 주요 기능이 있습니다. 또한, HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48은 테스트 중인 전자 장치 유형의 자동 감지 및 테스트 결과를 최적화하기 위한 매개변수 조정 등의 추가 기능을 제공합니다. 이 시스템은 직렬, 병렬 및 불규칙 인터페이스도 제공합니다. M1-UN-DP48 운영 시, 다양한 소프트웨어 및 프로그래밍 언어에 익숙해야 합니다. 이 장치는 C, C++, JAVA, LabView, Python 및 Visual Studio.net을 포함한 다양한 프로그래밍 언어와 테스트 프로토콜을 사용합니다. 또한 Appliances, Automotive, Lighting 및 Medical Devices 테스트를 위해 특별히 설계된 몇 가지 테스트 스크립트가 있습니다. HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48은 또한 다양한 디버그 도구 (예: 지속적인 모니터링, 그래프 기능 및 패턴 검색) 를 제공합니다. 또한 장치에는 [전압], [전류], [주파수], [듀티 사이클] 및 [펄스 폭 변조] 와 같은 매개 변수 조정 옵션이 있습니다. 마지막으로, M1-UN-DP48 은 다양한 안전 기능을 갖추고 있어, 실제로 모든 환경에서 사용할 수 있습니다. 이 장치는 전력 서지, 스파이크 (spike), 쇼트 서지 (short-circuit) 및 열 보호 (thermal protection) 를 방지하기 위해 강력한 회로를 가지고 있어 우발적 손상의 위험을 크게 줄입니다. 또한, HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48은 추가 회로 및 프로그래밍으로 업그레이드하여 수명을 늘릴 수 있습니다. M1-UN-DP48은 다양한 디지털 테스트 및 분석을 수행하는 데 적합한 장치입니다. 강력한 안전 기능과 다양한 인터페이스를 갖춘 HI-LO SYSTEMS M1-UN-DP48은 안정적이고 다양한 테스트 장치를 원하는 모든 사람에게 적합한 선택입니다 (영문).