판매용 중고 FITEL S-174H #9180446

FITEL S-174H는 광학 손실, 코어 직경, 벤딩 반경, 전력 손실 등 다양한 유형의 측정에 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 사용할 파장 선택을 위해 VWS (Versatile Wavelength Selector) 를 사용하는 통합 소스가 장착되어 있습니다. 또한 VWS는 연속 파동 및 펄스 측정 중에서 선택할 수 있습니다. S-174H에는 측정 범위 전체에서 최적의 출력 전원 수준을 유지하는 자동 출력 (output-power) 자동 제어 기능이 있습니다. dB, dBm에서 수치 결과를 제공하는 2 개의 내장 디지털 디스플레이가 있습니다. 또한, 포함된 Event Maker [TM] 는 테스트 대상 광섬유의 특성에 대한 그래픽 정보에도 사용할 수 있습니다. 피텔 S-174H (FITEL S-174H) 는 단일 모드 및 다중 모드 섬유의 광 손실을 측정하는 이상적인 도구이며, 새로운 가변 범위 전원 제어는 더 좁은 광 손실 범위를 측정 할 때 테스트 출력 전력을 최적화 할 수 있습니다. 파장 범위는 650nm ~ 1700nm이며 동적 범위 (-70 ~ + 10dBm) 와 함께 전환 할 수 있습니다. 이 전자 테스트 장비를 사용하여 수치 조리개, 동심도, 코어 직경 (core diameter) 과 같은 다양한 광학 측정을 수행 할 수도 있습니다. 또한 S-174H 는 완전히 자동화된 프로그레시브 (progressive) 측정을 통해 서로 다른 커넥터에 연결된 여러 섬유에 대해 일련의 측정을 신속하게 수행합니다. 또한 FITEL S-174H용 Fully Automatic Repair/Refurbishing 소프트웨어 패키지는 원활한 작동을 보장합니다. 이를 통해 사용자는 측정 데이터를 전송하고, 포괄적인 보고서의 결과를 분석하고, 결과를 다른 섬유와 비교할 수 있습니다 (영문). S-174H (S-174H) 는 신뢰성이 높고 사용자 친화적인 전자 테스트 장비로, 다목적 광학 손실 측정 및 다양한 테스트 어플리케이션에 적합합니다. PC 인터페이스, 패딩 휴대용 케이스, 사전 등록된 FC/SC/ST 터미네이터와 같은 다양한 사용자 친화적이고 비용 효율적인 액세서리와 함께 제공됩니다.