판매용 중고 EIP 25B #9167849

EIP 25B는 전자 및 기계 시스템을 식별, 분석, 제어하는 데 사용되는 일종의 전자 테스트 장비입니다. 개발 비용과 엔지니어링 시간 (engineering time) 을 줄일 목적으로 높은 수준의 정확성과 다용성을 제공하도록 설계되었습니다. 25B는 4 개의 터미널 측정 원리에서 작동하며, 이는 필요에 따라 2 개 이상의 터미널의 전압 및 저항을 측정합니다. 이를 통해 연결된 2 개의 회로 내부와 그 사이의 신호를 평가하고 분석 할 수 있습니다. TDR (Time-Domain Reflectometer) 이 장착되어 시스템의 전기 파형을 측정하는 반면, 액티브 프로브 (Active Probing) 기능 (옵션) 은 시스템에 대한 최소한의 중단으로 추가 프로브를 허용합니다. EIP 25B 는 직관적인 사용자 인터페이스를 제공합니다. 따라서 엔지니어는 신속하게 매개변수를 설정하고, 테스트를 시작하고, 결과를 시각화하고, 최소한의 전술적 상호 작용으로 문제 해결을 시작할 수 있습니다. 고속 디자인의 검사 및 특성을 위해 특별히 설계되었습니다. 이 제품은 2 개의 내부 DC 전원 공급 장치, 펄스 발전기, 오실로스코프 (oscilloscope) 를 갖추고 있어 엔지니어가 실시간으로 전자 속성을 정확하게 측정 및 평가할 수 있습니다. 또한 25B는 오실로스코프 기능, 전원 공급 장치 출력, 파형 생성기, 내장 프로브 등 다양한 측정 기능을 제공합니다. 오실로스코프 (oscilloscope) 는 시스템의 전압 및 전류 파형에 대한 정보를 제공하는 반면, 펄스 생성기 (pulse generator) 는 여러 주파수 스펙트럼을 선택할 수 있습니다. 피크 검출기는 피크-피크 (peak-to-peak) 기능과 결합 할 수있는 전환 가능한 지연 선으로 펄스 모서리를 감지 할 수 있습니다. EIP 25B의 내장 프로브는 두 개의 전기 매개변수 (전압과 전류) 를 동시에 측정합니다. 이것은 회로 내부의 전기 결함을 진단하는 데 도움이됩니다. 또한 디지털 신호 패턴을 캡처하는 서명 분석기 (signature analyzer) 와 온도, 수분, 진동 또는 과부하로 인해 컴포넌트 값의 변화를 모니터링할 수있는 임피던스 분석기 (impedance analyzer) 가 있습니다. 또한 25B는 온보드 장애 감지 (On-Board Fault Detection) 에 대한 진단 알고리즘을 포함하고, 알고리즘 개발 인터페이스를 통해 발생하는 과제에 대한 해결책을 제공하는 응용 프로그램 라이브러리를 제공합니다. 전반적으로 EIP 25B 는 다재다능하고 신뢰할 수 있는 툴로서, 엔지니어에게 전자 시스템을 빠르고 정확하게 디버그하고 분석할 수 있는 기능을 제공합니다. 직관적 인 사용자 인터페이스와 수많은 기능으로, 25B는 널리 사용되는 전자 테스트 장비가되었습니다.