판매용 중고 ANRITSU MS710F #9100825

ANRITSU MS710F (ANRITSU MS710F) 는 로컬 또는 글로벌 수준에서 고주파 장치의 성능을 평가하고 모니터링하는 데 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 이 기기는 효율적인 신호 분석과 다양한 작동을 염두에두고 설계되었습니다. 디지털 및 아날로그 RF 신호를 검사하기위한 다양한 유용한 기능을 제공합니다. MS710F는 세계에서 가장 높은 주파수 범위 (125kHz-40GHz) 를 제공하여 다양한 어플리케이션에 적합합니다. 고속 (High-Speed) 측정 장치는 최대 4GHz의 신호 품질 오류를 추정할 수 있습니다. ANRITSU MS710F 듀얼 빔 트레이스 (Dual-Beam Trace) 에는 두 개의 동시 빔 모니터가 있으며, 한 번의 측정으로 광범위한 추적을 표시할 수 있습니다. 또한, Small Pulse Generator를 사용하면 신호 분석 기능이 반도체 구성 요소 및 하위 구성 요소 테스트의 성능을 측정하는 데 적합합니다. MS710F는 고조파 및 복합 성능과 같은 비선형 특성을 결정하는 Distortion Measurements를 제공합니다. 또한 Marker Tracking, Limit testing, Vector Network Analyzer, Power Measurement 및 Distributed Amplifier 기능뿐만 아니라 스펙트럼 마스킹 및 ACPR 측정도 있습니다. ANRITSU MS710F는 외부 교정기 장치를 기반으로 추적 가능한 교정 시스템을 사용합니다. 이 고유한 기능을 사용하면 MS710F 를 매우 정확하고 안정적인 참조 포트로 조정할 수 있습니다. 이 기기에는 사용하기 쉽고 직관적인 메뉴와 컨트롤을 제공하는 GUI (Graphic User Interface) 기반 소프트웨어가 있습니다. 이 인터페이스는 데이터 수집 프로세스 (Data Acquisition Process) 를 간소화하고 가속화하여 다양한 애플리케이션에 적합한 디바이스입니다. ANRITSU MS710F는 RF 설계 및 생산 테스트에서 중요한 측정 작업을 위해 설계되었습니다. 높은 신뢰성과 폭넓은 주파수 범위 (Frequency Range) 를 갖추고 있어 고주파 어플리케이션에 뛰어난 성능과 장기적인 안정성을 제공합니다.