판매용 중고 ANRITSU MP1777A #114822

ANRITSU MP1777A (Multi-Purpose Electronic Test Equipment) 는 전자 부품, 시스템 및 하위 시스템의 개발 및 생산에서 광범위한 매개변수를 테스트하고 측정하기 위해 설계된 ETE (Multi-Purpose Electronic Test Equipment) 입니다. MP1777A는 LCR (Inductance, Capacitance, Resistance) 측정, 트랜지스터 테스트, 정교한 오실로스코프 기능, 통신 테스트 및 분석, 데이터 로깅 등의 기능을 제공합니다. ANRITSU MP1777A는 다양한 측정 기능을 제공합니다. LCR 측정에는 인덕턴스, 커패시턴스, 공명 주파수, Q (품질 계수), 댐핑 계수 및 다이오드 테스트가 포함됩니다. 측정 매개변수는 다양한 주파수를 처리할 수 있습니다. Transistor Testing 기능을 사용하면 회로의 Hfe 및 Vcb 매개 변수를 측정할 수 있습니다. 또한 최대 대역폭이 200MHz 인 Oscilloscope 기능, 최대 대역폭이 200MHz, 500ns/div에서 0.5ns/div의 스윕 시간 및 5mV/div에서 10V/div의 수직 범위를 갖습니다. 또한 Bluetooth, ZigBee, NFC, Wi-Fi, RFID 및 기타 다양한 통신 프로토콜을 지원하는 통신 테스트 기능도 제공합니다. 통신 프로토콜을 테스트하기 위해 다양한 유형의 신호를 생성 할 수 있습니다. 또한 응답을 분석하여 전체 프로토콜을 철저히 검토 할 수 있습니다 (영문). 이 기능은 특히 제품 개발의 통신 프로토콜을 검증하는 데 유용합니다. MP1777A 는 또한 로깅 (Logging) 기능을 통해 결과 데이터를 내부 메모리 또는 USB 드라이브에 저장할 수 있습니다. 즉, 전원 장애 또는 기기 스위치가 꺼져 있을 경우 데이터 손실을 방지합니다. 이 장치에는 사용자가 결과를 검토하고, 보고서를 생성하고, 복잡한 시각화 (visualization) 를 만들 수 있는 통합 데이터 분석 모듈이 포함되어 있습니다. 따라서 데이터 추세를 보다 쉽게 파악하고, 테스트 실패나 문제의 근본 원인을 파악할 수 있습니다. ANRITSU MP1777A에는 그룹 스캔, 최대 500MS/s의 신호 처리 속도, 장치 검증을위한 지능형 스캔 기능, 두 소스에서 매개 변수를 측정하기위한 이중 채널 기능 등 다양한 다른 기능도 포함되어 있습니다. 이러한 모든 기능을 통해 MP1777A는 전자 부품 개발 및 생산에 이상적인 도구입니다.