판매용 중고 ANRITSU MP1764A #9107899

ANRITSU MP1764A 는 광 구성 요소, 모듈, 시스템에 대한 고성능 테스트를 위해 설계된 고급 테스트/측정 도구입니다. 삽입 손실, 편광 종속 손실, 편광 모드 분산, 백스캐터링 및 PDL (Polarization Dependent Loss) 과 같은 매개변수의 특성화에 사용됩니다. 또한 광섬유 케이블, 커플러, 커넥터 및 기타 구성 요소에 대한 고성능 테스트를 수행하는 데 도움이됩니다. MP1764A OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) 은 최신 광학 테스트 및 측정 기술과 사용자 친화적 인 기능 및 고해상도 터치 스크린 디스플레이를 결합합니다. 추적 리샘플링 방법 (trace resampling method) 과 1-5 도 파형 처리 기법 (waveform processing technique) 을 활용하여 넓은 동적 범위로 정확한 테스트를 수행할 수있는 분석 알고리즘을 사용합니다. 또한 선택한 각 파장에 대해 220ms 미만의 스캔 시간이 있으므로 동적 테스트 (dynamic testing) 애플리케이션에 적합합니다. ANRITSU MP1764A는 단일 모드 및 다중 모드 광섬유 및 커넥터로 작동하도록 설계되었습니다. 최대 160 nm 및 16 파장 채널의 광학 파장을 가진 다중 모드 및 단일 모드 소스를 모두 지원합니다. 또한 독특한 편광 의존성 테스트 (polarization dependency test) 기능을 제공하여 특히 정밀 측정에 유용합니다. 이 기기는 또한 광 테스트 거리의 수동 조정을 방지하는 자동 게인 조정 (auto-gain adjustment) 기술을 갖추고 있습니다. MP1764A 는 사용자 친화적이며, 포트 플러그인 (plug-ins) 을 빠르게 변경하고, 색상이 규정된 직관적인 인터페이스를 통해 신속하게 설치 및 데이터를 수집할 수 있습니다. 고해상도 디스플레이 (High-Resolution Display) 는 그래픽 및 숫자 형식으로 해석하기 쉬운 정보를 표시하며 기기의 도움말 시스템에 대한 액세스를 제공합니다. 또한 테스트 결과 및 분석 보고서를 실시간으로 생성할 수 있는 프린터가 내장되어 있습니다 (영문). ANRITSU MP1764A 는 안정적인 작동을 위해 설계되었으며, 실험실 및 현장 설정 모두에서 사용할 수 있습니다. 스토리지 용량이 높아 60,000 개의 추적 (trace) 과 128,000 개의 이벤트를 내부 메모리에 저장할 수 있습니다. 또한 고급 사용자 인터페이스 (Advanced User Interface) 를 통해 여러 테스트를 동시에 수행할 수 있으며, 랩탑 컴퓨터와 함께 사용하거나 사용하지 않아도 됩니다. MP1764A 는 다양하고 정확한 테스트 기기로, 광통신 시스템, 고속 인터넷 애플리케이션, 광학 시스템 등에 사용되는 구성요소, 어셈블리의 테스트, 측정 등의 애플리케이션에 적합합니다. 광범위한 측정 기능을 갖추고 있으며, 범용 (general-purpose) 및 특수 광학 테스트 작업에 모두 적합합니다.