판매용 중고 ANRITSU MP1763C #9009622

ANRITSU MP1763C는 생산 테스트 및 고속 디지털 부품 특성화를위한 고급 전자 테스트 기기입니다. 이 경제적이고 사용하기 쉬운 기기는 반도체, IC, 광섬유, 커넥터 및 기타 고속 디지털 부품의 생산 테스트와 특성화에 필요한 성능과 정밀도의 조합을 제공합니다. MP1763C는 고속 타이밍, 듀티 사이클, 주파수, 펄스 너비, 상승 시간, 가을 시간, dV/dt, 왜곡, 신호 품질, 눈 패턴, 지터 등을 포함한 광범위한 측정을 가능하게합니다. ANRITSU MP1763C는 파형 (시간, 주파수, 듀티 사이클, 상승 시간, 추락 시간, 펄스 폭, dV/dt 및 왜곡) 을 포함한 여러 측정 모드를 제공합니다., 그룹 지연 (자동 주파수 스윕 시 위상 및 그룹 지연), 눈 패턴 (눈 다이어그램, 상승/추락 시간, 오버 샷/언더 샷 및 지터), 신경 네트워크 (인공 신경 네트워크 학습을 통한 파형의 현명한 분류) 및 파라 메트릭 (랜덤 볼트/시간, 크리티컬 경로, 타이밍 모델, RCLK). 다양한 테스트 및 측정 기능 외에도 MP1763C는 12 비트 해상도의 고감도, 고해상도 A/D 변환기, 고속 신호를 정확하게 측정하기 위해 최대 200 MS/s의 샘플 속도를 제공합니다. ANRITSU MP1763C 는 빠른 이중 채널 파형 (waveform) 검색 기능으로, 캡처된 파형에서 지정된 파형 패턴을 최대 1 마이크로초 속도로 감지하고 찾을 수 있습니다. 또한 MP1763C는 자동 트리거, 자동 임계값, 자동 감지 및 자동 보정 기능을 제공하여 테스트의 정확성과 반복성을 보장합니다. 또한이 기기는 프로그래밍 가능한 병렬 GPIB/직렬 (USB/이더넷) 인터페이스, 소프트웨어/하드웨어 트리거 및 동기화 기능, 전원 측정, 데이터 저장, 프로그래밍 및 분석을 위한 내부 메모리 등 고급 전자 테스트 기능을 제공합니다. 또한 ANRITSU MP1763C 모듈식 설계를 통해 다양한 기기와 통합하여 시리즈 연결, 병렬 경로, 다중 채널 동기화가 가능합니다. 임베디드 (Embedded) 프로그래밍 언어는 자동화를 위해 쉬운 계기 제어를 지원하며 측정 방법을 사용자 정의하여 개발할 수 있습니다. MP1763C는 디지털 부품의 생산 테스트 및 특성화에 적합한 다재다능하고 정확한 테스트 기기입니다. 이 기기는 다양한 기능을 통해 반도체, IC, 광섬유 (fiber optics), 커넥터, 고속 디지털 부품과 같이 빠르고 정확한 측정이 필요한 응용 분야에 적합합니다.