판매용 중고 ANRITSU ME448A #9111274
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ID: 9111274
Bit Error Rate Test Set
CCITT compatible
Operating range: 1 kbit/s to 50Mbit/s
Loop-back and end-to-end measurements
Sending unit, internal clock crystal oscillator: maximum four frequencies installed
Receiving unit, bipolar clock recovery: maximum three frequencies installed
Bipolar and unipolar system measurements
Bi polar - maximum four outputs (two outputs standards) Unipolar - pattern: four outputs clock: two outputs
Measuring pattern: Psuedo-random pattern maximum length 215 - 1or 223 - 1bits
Measuring codes: AMI, HDB3
Error rate measurement and error pulse counting by detecting binary bit errors or code violation errors (option)
Recorder output/Printer output.
ANRITSU ME448A (ANRITSU ME448A) 는 전자 부품 및 회로의 개발 및 테스트를 위해 설계된 고정밀 전자 테스트 장비입니다. 이 다용도 장치는 TDR (Time Domain Reflectometry), 임피던스 측정, 이득 측정, 임피던스 전환 등 다양한 테스트 기능을 제공합니다. 넓은 주파수 범위는 1kHz ~ 1GHz이며 측정 정확도는 최대 0.002% 입니다. 이 장치에는 손쉬운 작동을 위한 터치 스크린 LCD 디스플레이가 포함되어 있습니다. GPIB, RS-232 및 병렬 I/O 프린터 포트와 같은 외부 연결용 포트가 있습니다. 또한 PC 연결을 위한 USB 포트도 있습니다. 이 장치에는 주파수 및 레벨 조정을위한 신호 생성기 출력이 내장되어 있습니다. TDR (Time Domain Reflectometry) 측면에서 ME448A는 서로 다른 시나리오에 대해 세 가지 측정 모드를 제공합니다. 첫 번째 모드 인 기본 TDR (basic TDR) 은 송전선을 통과할 때 신호의 전체 그림을 제공합니다. 두 번째 모드 인 임피던스 그래프 (impedance graphs) 는 라인 터미널 임피던스의 고주파 응답에 대한 자세한 그래프를 제공합니다. 세 번째 모드인 편광 (polarization) 을 사용하면 편광된 컴포넌트의 특성을 측정할 수 있습니다. ANRITSU ME448A 는 또한 이득 측정 (gain measurement) 기능을 갖추고 있어, 넓은 주파수 범위에 걸쳐 디바이스의 정확한 이득 추정치를 제공합니다. 이러한 기능을 사용하면 전자 부품 및 회로의 손실과 왜곡을 식별할 수 있습니다. 또한 Impedance 스위칭 기능을 통해 사용자가 다른 테스트 포인트 간에 전환할 수 있습니다. 또한, 이 장치에는 네트워크를 통한 원격 작업, 자동 저장 (auto-save) 및 외부 기기 제어와 같은 고급 기능이 있습니다. 휴대성과 견고한 디자인으로 실험실 및 현장 응용프로그램에 적합합니다. 동축 및 파면 구성 요소 모두에 사용하기에 적합합니다. 전반적으로, ME448A 는 전자 부품 및 회로에 대한 정확한 측정이 필요한 사람들을 위한 강력하고 다양한 테스트 장비입니다. 안정적인 기간 측정, 이득 측정, 임피던스 측정 및 임피던스 전환을 제공합니다. 다양한 기능과 사용자 친화적 인 터치 스크린 (Touch Screen) 으로 인해 전자 업계의 고객에게 이상적인 선택이 됩니다.
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