판매용 중고 ANRITSU 37397C #9084236

ANRITSU 37397C는 아날로그 및 디지털 회로의 고주파 특성을 측정하기 위해 설계된 전자 테스트 장비입니다. 이 테스트 장비는 고주파 (High Frequency) 측정을 다루는 반도체, 컴퓨터, 통신 산업의 엔지니어 및 기술자에게 이상적입니다. 전기망 (Electrical Network) 의 미세한 변화를 정확하게 감지하고 분석할 수 있으며, 광범위한 테스트 매개변수를 제공할 수 있습니다. 37397C는 TDR (Time Domain Reflectometry), DPM (Differential Phase Measurement), VNA (Vector Network Measurement) 및 TDPM (Time Domain Phase Measurement) 을 포함한 여러 측정 기능을 통합합니다. TDR은 파형 반사 (waveform reflection) 를 이용해 고주파 회로의 전기적 특성을 측정하는 도구다. DPM 은 각 신호의 전기 위상을 측정하여 송전선 (transmission line) 과 회로 (circuit) 의 왜곡 특성을 측정합니다. VNA는 전송 라인과 네트워크의 특성을 매우 정확하게 측정합니다. TDPM (Operating Frequency Range) 의 도착 시간과 신호 지연 시간을 측정하여 회로의 대략적인 손실 특성에 대한 정보를 제공합니다. 이러한 측정 외에도 ANRITSU 37397C 에는 고해상도 파형 디스플레이, 측정 결과 기록 및 저장을위한 비휘발성 메모리, 비교 작업 등의 내장 기능이 있습니다. 이 테스트 장비는 Windows와 호환되며, 작동과 제어가 용이하며, USB 포트를 통해 외부 장치로 데이터를 전송할 수 있습니다. 37397C에는 넓은 측정 주파수 범위가 있으며 주파수는 5kHz에서 30GHz로 확장됩니다. 진폭 동적 범위가 높은 신호를 -90dBm 이하로 측정 할 수 있습니다. 테스트 장비는 또한 1µV의 고급 해상도를 특징으로하여 정확한 진폭 측정을 가능하게합니다. 안리츠 37397C (ANRITSU 37397C) 는 매우 신뢰성 있고 신뢰할 수 있는 테스트 장비로 여겨지며, 고급 사양은 매우 섬세한 측정 및 분석에 적합합니다. 다양한 기능을 통해 고주파 아날로그 및 디지털 회로의 특성에 이상적입니다. 또한, 이 테스트 장비는 합리적인 가격표를 가지므로, 측정 요구사항에 대한 매력적인 솔루션이 됩니다.