판매용 중고 AITELONG SAT-17M #9105829

AITELONG SAT-17M은 디지털 및 아날로그 구성 요소 테스트에 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 다용도, 휴대성, 사용이 간편하며, 대형 그래픽 디스플레이와 손쉽게 탐색/제어할 수 있습니다. 단일 칩 및 멀티 칩 마이크로 프로세서, 아날로그-디지털 컨버터, 메모리 모듈, 로직 게이트 및 회로를 포함한 디지털 및 아날로그 구성 요소를 모두 테스트하도록 설계되었습니다. SAT-17M은 최대 40MHz 샘플링 속도, 실시간 신호 생성기 및 모니터, 4 가지 특수 측정 기능 (이중 파동 기능, 임펄스 타임 도메인 신호 획득, 버스트 컨트롤 및 에지 감지) 을 갖춘 온보드 작동 생성기와 오실로스코프를 갖추고 있습니다. 또한 FPGA 기반 변환 시스템과 고정밀 16 비트 A/D 및 D/A 컨버터가 있습니다. 이 설계에는 고중량 (high-weight), 입력 신호 (input signal), 넓은 동적 범위 (dynamic range) 및 저소음 환경 (low-noise environment) 이 있어 다양한 컴포넌트를 테스트하는 데 적합합니다. 구성 요소 테스트의 경우 AITELONG SAT-17M을 사용하여 전압, 전류, 전력 소비, 게인, 주파수, 펄스 및 위상/시간과 같은 전기 매개 변수를 측정 할 수 있습니다. 또한, 전파 지연, 전압 응답, 회로 전환 등을 테스트하여 회로에서 논리 게이트의 무결성을 확인하는 데 사용할 수 있습니다. 또한 SAT-17M을 사용하여 디지털 및 아날로그 컴포넌트의 비선형 특성을 측정 할 수 있습니다. 측정 범위는 0.5V ~ 15V, 입력 주파수는 5Hz ~ 35MHz로 수동으로 설정할 수 있습니다. AITELONG SAT-17M (AITELONG SAT-17M) 에는 측정 결과 저장 기능, 향후 참조를 위해 이동식 디스크 설정, 추가 분석을 위해 컴퓨터에 연결하는 기능 등 다양한 유용한 기능이 있습니다. GUI 는 사용자 친화적이며 비교 기능, 자동 확장 (auto-scaling), 실시간 스펙트럼 분석 등 몇 가지 유용한 툴을 갖추고 있습니다. 또한 전원 어댑터와 포괄적인 사용자 설명서가 포함되어 있습니다. 전체적으로, SAT-17M은 디지털 및 아날로그 구성 요소 테스트 모두에 적합하고 사용하기 쉬운 테스트 기기입니다. 전기적 매개변수 테스트 (electrical parameter testing) 및 집적 회로 무결성 검증 (integrated circuit integrity verification) 에서 다양한 옵션을 제공합니다. AITELONG SAT-17M은 사용자 친화적 인 인터페이스, 우수한 측정 정확도, 강력한 구축을 통해 다양한 업계에서 일하는 전문가와 엔지니어에게 이상적인 도구입니다.