판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT N8974B #293609073

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT N8974B는 서비스 제공 업체, 연구 실험실 및 장치 제조업체를 위해 설계된 고급 전자 테스트 장비입니다. 혁신적인 디자인과 엔지니어링을 특징으로하는이 다용도 기기는 다양한 주파수 (frequency) 내에서 DC 및 RF 매개변수를 정확하게 측정할 수있는 모든 기능을 갖춘 플랫폼을 제공합니다. HP N8974B 는 다양한 측정 모드를 갖추고 있어 뛰어난 정확성과 반복성, 복잡한 보드/시스템에 대한 안정적이고 효율적인 테스트를 제공합니다. AGILENT N8974B 는 시간 도메인 (time-domain) 및 고조파 분석 (harmonic analysis) 을 포함한 다양한 동적 측정 기술을 사용하여 사용자가 신속하게 매개변수와 테스트 설정을 지정할 수 있습니다. 또한, 이 기기는 주파수 반응, 고조파, 상호 변조 및 격리 측정과 같은 많은 측정 기능을 통합합니다. KEYSIGHT N8974B의 사용자 친화적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 는 탐색을 단순화하고 다양한 측정 결과를 표시합니다. 이 기기는 또한 DC 매개 변수를위한 소형 신호 분석 모드 (small-signal analysis mode) 와 AC 측정에 대한 대규모 신호 분석 (large-signal analysis) 을 포함한 여러 분석 모드를 특징으로합니다. 이 장치에는 다양한 소프트웨어 옵션이 포함되어 있으며, 포괄적인 자동화 및 데이터 분석 기능을 제공합니다. N8974B에는 디지털/광대역 장치를 정확하게 측정할 수 있는 유연한 구성의 Pulse Generator가 내장되어 있습니다. 복잡한 응답을 가진 장치의 경우, 이 기기는 측정 시간을 줄이고 측정 정확도를 향상시키는 정교한 분석 도구를 제공합니다. 이 기기는 정교한 열 보상 구성 요소 (thermally-compensated component) 와 방법을 활용하여 다양한 온도 범위에서 안정적이고 반복 가능한 결과를 제공하도록 설계되었습니다. 이것은 실패하지 않고 정확하고 신뢰할 수있는 결과를 보장합니다. 또한 자동화된 자가 테스트 (self-test) 및 진단 (diagnostic) 기능을 통해 운영 시간을 단축하고 유지 관리 비용을 절감할 수 있습니다. 이 전자 테스트 장비는 RF (Radio Frequency) 및 마이크로파 테스트, 반도체 장치 테스트, RFIC (Radio-Frequency Integrated Circuit) 특성 및 기지국 성능 테스트와 같은 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. 이 기기는 DC, S- 매개변수, 위상 및 시간 도메인에서 총 고조파 왜곡 (THD) 에 이르는 매개 변수를 정확하게 측정하는 데 널리 사용됩니다. 간단히 말해서, HEWLETT-PACKARD N8974B는 사용자에게 정확하고 반복 가능한 결과를 제공하기 위해 설계된 다양한 기능과 기능을 갖춘 고급 전자 테스트 장비입니다. 이 기기는 반도체 장치 테스트, RF 및 마이크로파 테스트, 기지국 성능 테스트 등에 이상적인 선택입니다. 열 보상 구성 요소, 혁신적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 결합된 다목적 설계를 통해 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다.