판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT N5172B #9262745

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT N5172B는 HDDigital (High Definition Multimedia Interface), SATA (Serial ATA), SATA (Peripconect Express Component Interenter) 와 같은 기술의 신호 무결성을 테스트하는 데 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 최신 고속 통신 시스템 (High Speed Communication System) 의 설계 및 제조 프로세스에 필수적인 요소입니다. HP N5172B는 안정적인 시스템 성능과 넓은 대역폭을 제공하도록 설계되어 신호 무결성 측정, 신호/지터 특성, 디지털/혼합 신호 (Mixed Signal) 테스트 등을 위한 완벽한 장치입니다. 주파수 범위는 9 kHz ~ 13.5 GHz, RF 입력, 샘플 레이트 범위, IF 대역폭은 최대 400 MHz입니다. AGILENT N5172B의 모듈식 아키텍처는 다용도와 비용이 매우 효과적입니다. 다양한 애플리케이션 모듈을 통해 고유한 요구 사항을 충족할 수 있습니다. HEWLETT-PACKARD N5172B에는 AWG (Arbitrary Waveform Generator) 모듈과 VSG (Vector Signal Generator) 모듈의 두 가지 기본 제공 소스가 있습니다. AWG 모듈의 샘플 속도는 300 Msamples/sec, 최대 16 비트 수직 해상도 및 다양한 파형의 경우 최대 32 비트 주파수 해상도를 갖는 반면, VSG 모듈은 GSM, CDMA, TDMA 및 W-CMA와 같은 아날로그 또는 디지털 변조 무선 주파수 신호를 생성 할 수 있습니다. 또한 N5172B 에는 다양한 테스트 모드가 있어 다양한 측정이 가능합니다. 전원 및 주파수 측정 (Power & Frequency Measurement) 모드는 낮은 수준의 신호의 진폭 및 전원 수준을 측정하는 데 이상적입니다. Swept Measurement 모드는 Group Delay 및 Return Loss Measurement 를 포함한 장치의 주파수 응답을 신속하게 측정합니다. 디지털 변조 분석 (Digital Modulation Analysis) 모드에서는 다양한 디지털 변조 형식을 사용하여 신호의 특성을 분석할 수 있습니다. KEYSIGHT N5172B는 Advanced Signal Statistics, EVM (Error Vector Magnitude) 분석, 고조파 전원, Flatness & Tilt Correction and Trace Memory 등의 테스트 정확성을 향상시키는 다양한 기능을 제공합니다. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT N5172B는 또한 GPIB, LAN, USB 및 RS232 리모콘과 같은 다양한 사용자 인터페이스를 제공하여 테스트 환경에 쉽게 통합할 수 있습니다. HP N5172B는 뛰어난 성능, 유연성 및 신호 무결성 테스트를 위한 사용 편이성을 제공합니다. 이 제품은 광범위한 애플리케이션에서 사용할 수 있는 강력한 제품으로, 고속 (High Speed), 고해상도 (High Resolution), 고성능 통신 시스템 (High Performance Communication System) 의 개발 및 생산에 이상적인 제품입니다.