판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E5515C #9042484

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E5515C 전자 테스트 장비는 반도체 장치 및 관련 제품의 신호 무결성 테스트 및 설계 확인을 위해 설계되었습니다. 이 테스트 장치 (Testing Device) 는 테스트 중인 장치의 전기 응답을 측정하여 성능을 평가합니다. HP E5515C 는 임펄스 (impulse) 또는 스크램블 (scrambled) 신호를 생성하고 테스트 중인 장치 입력에서 응답을 측정합니다. 이 장치는 주파수 도메인 분석 및 펄스 폭 측정도 수행합니다. AGILENT E5515C에는 메인프레임 및 테스트 헤드가 장착되어 있습니다. 메인프레임은 최대 2 개의 ModAc 모듈을 지원하며, 이 모듈은 제어 및 측정에 여러 기능을 제공합니다. 테스트 헤드는 입력 및 출력 채널에 통합 된 50 옴 (ohm) 종료를 포함하여 DUT에 대한 분리 된 환경을 제공합니다. E5515C는 작은 신호 오버드라이브로 상승 시간 (rise time) 및 하락 시간 (fall time) 과 같은 시간 도메인 측정에서 주파수 단계 응답 (frequency-step response) 과 같은 주파수 도메인 측정에 이르기까지 광범위한 전기 측정을 제공합니다. 나노 초에서 몇 초까지의 측정을 사용할 수 있습니다. 이 기기는 또한 좁은 펄스 성능 및 고속 에지 측정에 대한 분석을 제공합니다. 또한 KEYSIGHT E5515C는 종합적인 마스크 테스트 및 통계 분석 기능을 제공합니다. 이 전자 테스트 장치에는 정교한 제어 (control) 및 데이터 획득 (data-acquisition) 시스템이 장착되어 있어 여러 테스트를 신속하게 설정, 제어, 운영할 수 있습니다. 테스트 설정 (Test Setup) 을 단순화하는 다양한 테스트 조건과 그래픽 인터페이스 (Graphical Interface) 를 지원하는 다양한 측정 명령 세트가 있습니다. HEWLETT-PACKARD E5515C는 높은 정확성과 반복성을 제공하여 안정적인 결과를 제공합니다. 트리거링 시스템은 다양한 트리거링 (triggering) 및 동기화 (Synchronization) 기능을 제공하여 외부 트리거와 SMU와의 통합과 같은 정확한 측정을 보장합니다. 또한 성능을 최적화하기 위해 선택 가능한 대역폭을 제공합니다. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E5515C에는 Electronic Design Automation 호환 분석기 소프트웨어도 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 데이터 분석, 보고, 그래프를 위한 포괄적인 툴과 기능을 제공합니다. 일반적인 테스트 설정 및 조건에 대한 기성품 테스트 및 제어 라이브러리가 있습니다. 전반적으로 HP E5515C는 고속 특성, 펄스 분석, 마스크 테스트를 위해 설계된 강력한 전자 테스트 장치입니다. 정확한 측정, 정교한 분석, 반도체 성능을 조사하는 안정적인 결과를 제공합니다.