판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E4400B #168160

AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E4400B
ID: 168160
Signal generator.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E4400B는 고주파 부품과 장치를 특성화하고 테스트하는 데 사용되는 고성능, 저가형 전자 테스트 장비입니다. HP E4400B는 주파수, 대역폭, 이득, 전력, 임피던스, 소음 그림, 왜곡 등 다양한 장치의 매개변수를 측정하는 데 사용됩니다. 이 장치에는 테스트 및 특성 (Characization) 프로세스를 빠르고 쉽게 수행할 수 있는 다양한 기능이 있습니다. AGILENT E4400B 의 기본 유닛은 디지털 컨트롤러 (Digital Controller) 로, 사용자는 여러 운영 모드에서 테스트 설정을 제어할 수 있습니다. 내장 키패드와 12.1 인치 액티브 매트릭스 액정 디스플레이 (AMLCD) 및 컴퓨터 지원 제어용 USB 포트가 있습니다. Digital Controller는 데이터 획득 보드, 신호 소스 보드, 장비 가용성 보드로 구성됩니다. 데이터 수집 보드 (Data Acquisition Board) 는 샘플링 속도에서 최대 10MHz의 데이터 캡처를 가능하게 하며, 신호 소스 보드는 최대 6GHz의 신호를 생성하고 비교할 수 있습니다. 또한 E4400B에는 FXK (Frequency Extension Kit) 가 있으며, 이는 오실로스코프의 주파수 범위를 최대 6GHz까지 확장합니다. 측정된 신호가 외부 모니터에 표시됩니다. 이 장치에는 편리하고 정확한 테스트를 위해 다양한 액세서리와 프로브 (Probe) 가 장착되어 있습니다. 여기에는 차동 증폭기, 프로브 전원 공급 장치, 전압 프로브, 임피던스/게인 프로브, 차폐 케이블 및 기타 액세서리가 포함됩니다. 또한 FTDA (Fast Time Domain Analysis) 시스템을 통해 사용자는 테스트 중인 장치 또는 장치의 동작 (예: 단계 응답, 일시적 응답, 고조파 왜곡, 노이즈 그림) 을 신속하게 평가할 수 있습니다. 또한 TDR (Time Domain Reflectometry) 테스트를 포함하여 여러 가지 내장 테스트가 있습니다. TDR (Time Domain Reflectometry) 테스트는 테스트 객체의 임피던스를 특성화하는 데 사용할 수 있으며 AIL (Automatic Interference Locator) 테스트는 기계의 감수성을 평가하는 데 사용할 수 있습니다. 전자기 간섭. HEWLETT-PACKARD E4400B는 위상 및 마이크로 초 정확도, 하드웨어/소프트웨어 제어, 빠른 AC/DC 측정, 위상 소음 테스트 등 다양한 테스트를 수행하는 데 사용할 수 있습니다. 또한 이 장치에는 사용자 프로그래밍 가이드 (User Programming Guide) 와 사용자 친화적 인 소프트웨어 (User-Friendly Software) 가 장착되어 있어 장치를 사용하는 방법을 배우고 테스트를 효과적으로 수행할 수 있습니다. 이 도구는 사용자와 장치를 보호하기 위해 다양한 안전 (Safety) 기능으로 설계되었습니다. 여기에는 키패드 잠금 장치, LCD 덮개 및 과전압 보호 자산이 포함됩니다. 이 장치는 -40 'C ~ + 60' C, 습도는 0 ~ 95% 입니다. KEYSIGHT E4400B는 중간 규모 및 고주파 장치 테스트 및 특성화에 적합한 효과적이고 저렴한 솔루션입니다.
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