판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 8991A #9263843

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 8991A는 반도체 산업에서 널리 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 여러 개의 GPIB 포트가 있는 자동 테스트 시스템으로, 복잡한 시스템의 문제를 해결하는 데 적합합니다. 이 장비는 웨이퍼 프로브, 장치 특성, 반도체 장치 굽기/안정성 테스트 등에 대한 총 테스트 솔루션을 제공합니다. HP 8991A는 HP 8970A의 후속 제품으로 DC 특성 (Pulsed Output Test, Voltage Output Test, Transconductance Test) 과 AC 특성 (AC Output Test) 을 모두 테스트하도록 설계되었습니다. 여기에는 다양한 모듈 (예: 독립적인 디지털 장치 제어가 가능한 조절 가능한 전원 공급 장치, 가변 테스트 신호 생성기, 다양한 인터페이스 보드) 이 포함됩니다. 이 장치는 또한 여러 수준의 자동화 (automation) 를 제공하여 수동 개입을 최소화하고 테스트 프로세스의 정확성을 향상시킵니다. 이 시스템은 고속 장치 특성 및 장애 분석에 사용하도록 특별히 설계되었습니다. 광범위한 전압 제어 옵션과 가변 속도 출력을 갖춘 4 개의 독립적 인 조정 가능한 소스가 있습니다. 통합 펄스 발전기는 최대 1MHz 의 신호를 생성할 수 있으며, 고속 반도체 장치를 테스트하는 데 적합합니다. 또한 최대 6V의 조정 가능한 전압 바이어스를 제공하여 다양한 유형의 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 및 번 인 (burn-in) 응용 프로그램에 적합합니다. AGILENT 8991A는 또한 통합 디지털 장치 제어를 통해 자동화되고 반복 가능한 테스트 절차를 지원합니다. 또한, 이 기능은 장애 분석을 위해 필수적인 데이터 로깅 기능을 제공합니다. 또한 C, AGILENT-Pascal, KEYSIGHT-BASIC 등과 같은 많은 진단 및 제어 언어와 호환되는 소프트웨어 환경도 갖추고 있습니다. 이 시스템은 확장성이 뛰어나고 확장성이 뛰어나 프로토 타이핑 (prototyping) 및 운영 레벨 테스트에 적합합니다. 8991A는 DC 및 AC 장치 테스트를 위한 안정적이고 비용 효율적인 솔루션입니다. 또한 접합 커패시턴스 (Junction Capacitance), 누출 전류 (Leakage Current), 온도 주기 (Temperature Cycle), 누출 전류 내구성 (Leakage Current Endurance) 등 다양한 테스트 매개변수를 분석하여 빠르고 정확한 장치 특성을 구현할 수 있습니다. 유연한 테스트 구성을 통해, HEWLETT-PACKARD 8991A 는 다양한 테스트 시나리오에 적합하며, 모든 반도체 연구소에 필수적인 도구입니다.