판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 85133F #9169869

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 85133F는 트랜지스터, 커패시터, 저항기, 다이오드 및 집적 회로와 같은 반도체 장치의 전기 특성을 측정하는 데 사용되는 전자 테스트 장비입니다. HP 85133F 는 모든 기능을 갖춘 디바이스 테스터로서, 전류, 전압, 저항, 정전, 전압, 고장 전압 등 다양한 반도체 매개변수를 테스트할 수 있습니다. 또한 데이터 로깅, 테스트 시퀀싱 자동화, 커브 추적 (curve-tracing) 등 다양한 소프트웨어 기능을 제공합니다. AGILENT 85133F는 통합 인터페이스/테스터 모듈, 전원 공급 장치 및 오실로스코프로 구성됩니다. 인터페이스/테스터 모듈은 조정 가능한 전압, 프로그래밍 가능한 범위의 현재 소스, 컴퓨터를 통한 장치 테스트 제어를위한 디지털 출력 레지스터 (Digital Output Register) 등 다양한 기능을 제공합니다. 또한 내장 디지털 전압계, 전류 미터 및 오름미터를 제공합니다. 오실로스코프는 두 개의 독특한 악기, 주요 오실로스코프와 프로브로 구성됩니다. 주 "오실로스코프 '는 파형 을 최대 500MHz 로 표시 할 수 있으며" 아날로그' 와 "디지털 '신호 를 모두 볼 수 있다. 프로브는 위치 지정, 전압 및 전류 측정 기능을 제공합니다. 85133F 는 우수한 진단 기능 (Diagnostic Capability) 을 제공하여 테스트 중인 디바이스의 특성을 시각화할 수 있습니다. 이 강력한 테스터는 조정 가능한 오프셋 널 (null) 을 가지며 10zV까지 측정 할 수 있습니다. 또한 조정 가능한 시간 도메인 응답 및 해상도는 500MHz입니다. 이를 통해 사용자는 다양한 신호 전파 속도 (signal propagation speed) 에서 신호의 상승/하강 시간을 측정할 수 있습니다. 또한 고급 프로그래밍 기능을 통해 사용자정의 커브 추적 (custom curve-tracing) 신호를 생성하여 특정 시간에 매개변수를 변경할 수 있습니다. HEWLETT-PACKARD 85133F 테스터는 열 측정 기능, 자동 gpib 인터페이스 및 내장 고전압 보호 기능도 갖추고 있습니다. 열 측정 (thermal measurement) 기능을 통해 사용자는 내장 온도 (thermoprobe) 를 사용하여 반도체 장치의 온도를 측정 할 수 있습니다. 과전압 보호 (Overvoltage Protection) 의 경우, 기기는 사전 설정된 전압 제한을 초과하여 테스트 장비 (Testing Equipment) 및 테스트 중인 장치 (Device) 의 손상을 방지해야 합니다. 또한 GPIB 인터페이스가 내장되어 있어 사용자가 장치를 PC에 쉽게 연결할 수 있습니다. 결론적으로, KEYSIGHT 85133F는 광범위한 반도체 장치를 테스트 할 수있는 다재다능하고 강력한 테스터입니다. 광범위한 기능 세트를 통해 사용자는 전류, 전압, 커패시턴스 (capacitance) 등 다양한 전기적 특성을 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한, 내장 안전 기능 및 GPIB 인터페이스는이 테스트 장치에 추가 가치를 제공합니다.