판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 70951B #293619045

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 70951B는 개발, 검증, 시스템 최적화 및 전력 관리 IC의 생산 테스트, 트랜지스터, HBFT 및 Super-JUNT 등 다양한 애플리케이션에 대한 자동화된 프로그래밍 가능한 반도체 DC 테스트 및 분석 솔루션입니다. HP 70951B는 DC 전압 및 전류, 전력 방전, 출력 임피던스, 충전 및 커패시턴스, 지연, 펄스 너비, 상승/하락 시간 및 저전력 스위칭 테스트를 포함한 광범위한 측정 기능을 제공합니다. 업계 최고의 생산성, 호환성 및 성능 생산성의 요구를 충족하도록 설계되었습니다. AGILENT 70951B는 자동 제어 구성, 유연한 시퀀싱, 다중 레시피, 결함 격리, 가속화된 스트레스 테스트, 디지털 I/O, 산출, 예방 유지 관리 및 GPIB를 통한 원격 액세스를 포함한 다양한 제어 옵션을 제공합니다. 이 다양성을 통해 테스터는 테스트 프로세스 전반에 걸쳐 높은 정확성과 반복 성을 유지할 수 있습니다. 전력 관리 IC의 특성을 정확하게 측정하기 위해 KEYSIGHT 70951B (영문) 에는 다양한 측정 기기가 장착되어 있습니다. 여기에는 고감도 dc 전류 미터, 직접 결합 온도 보상, 정밀 증폭기 및 마이크로파 전력 측정기가 포함 된 고감도 AC 전류 미터가 포함됩니다. 다용도 HP Wafer Probe System (HP Wafer Probe System) 은 완전한 기계적, 전기적 하드웨어 솔루션을 제공하며, 추가 고정장치 및 액세서리를 통합하여 테스트 기능을 더욱 확장할 수 있습니다. 70951B는 옵션 내장 온도 측정 장치 (TMU) 및 내장 DAC (Digital-to-Analog) 변환기 기술도 갖추고 있습니다. TMU (옵션) 를 사용하면 장치 성능에 대한 열 영향의 영향을 이해하기 위해 DUT (device-under-test) 의 온도를 측정할 수 있습니다. 내장 DAC 컨버터는 프로그래밍 가능한 Analog Voltage Pulses를 통해 DUT의 성능을 최적화하도록 설계되었습니다. 통합형 스위칭 모듈은 고전력을 소모하는 장치에 대한 안정적인 테스트를 통해 디버깅 (Debugging) 을 간소화하고 최고 수준의 테스트 성능을 최적화합니다. AGILENT DC 전기 특성 소프트웨어 라이브러리를 사용하면 측정된 데이터를 전송, 저장, 분석할 수 있으며, 소음과 변동성을 줄이고, 디버그/최적화 속도를 높이고, 테스트 시간과 시스템 가동 시간을 단축할 수 있습니다. HEWLETT-PACKARD 70951B는 또한 사용자 친화적 인 그래픽 사용자 인터페이스 및 소프트웨어 설계 도구를 제공하여 테스트 설정, 작업 및 데이터 처리를 용이하게 합니다. 이러한 모든 고급 기능의 조합은 진정한 동적 테스트 및 측정 솔루션을 제공하며, 이는 생산 테스트, 검증, 전원 관리 IC (Power Management IC) 디버깅 등에 적합합니다.