판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4156C #293814060

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156C는 반도체 장치 특성 및 파라 메트릭 테스트에 사용되는 다기능 테스트 시스템입니다. Main Frame 유닛과 4 개의 Parameter 모듈이 Mainframe 인터페이스 카드 및 Power Terminal 블록과 함께 연결되어 있습니다. HP 4156C에는 3 개의 말단 프로브 (V, I, R), 4 개의 전극 프로브 및 2 개의 켈빈 연결 프로브 어셈블리가 있습니다. 컴퓨터 제어 (computer control) 기능이 다양하여 광범위한 바이어스 조건에서 반도체 장치 성능에 대한 고정밀 파라 메트릭 (parametric) 테스트에 사용할 수 있습니다. AGILENT 4156C 는 소음 출력 단계 (noise output stage) 가 낮아, 넓은 주파수 범위에서 전압, 전류 등의 장치 특성을 고해상도로 측정할 수 있습니다. 4 개의 매개 변수 모듈은 다양한 펄스 파형, 이산 논리 레벨 (discrete logic level) 및 논리 신호 조합 (combination of logic signal) 의 적용뿐만 아니라 바이어스 전압 및 전류에 대한 높은 수준의 제어를 가능하게 하는 유연성을 제공합니다. 또한, 전류 감지 통합, 최대 및 최소 바이어스 전류 수준 메모리, 경보 제한 설정, 악기 교정 등 최첨단 디지털 기능을 제공합니다. 4156C에는 매개변수 모듈에서 사용 가능한 전압, 전류, 펄스 타이밍 등 다양한 측정 매개변수가 있습니다. 반도체 장치 특성화의 경우 DC 및 AC 매개 변수 측정이 모두 가능합니다. 또한 입력 커패시턴스 측정, 출력 커패시턴스 측정, 역 누출 전류 측정, 전류 누출 측정, 전환 시간 측정, 소음 측정 등 패라메트릭 테스트를 수행 할 수 있습니다. 유전체 및 산화물 층에 대한 파라 메트릭 테스트 (parametric testing) 를 절대 정확도로 수행 할 수 있으며, 파형 측정에 대한 매우 미세한 해상도를 가질 수 있습니다. 또한 HEWLETT-PACKARD 4156C는 반도체 장치의 전류 감지 전압을 직접 측정 할 수 있습니다. KEYSIGHT 4156C는 다양한 인터페이스 및 연결 구성 옵션을 제공합니다. GPIB 또는 RS-232 직렬 프로토콜을 사용하여 원격 컴퓨터에 연결할 수 있습니다. 컴퓨터 단말기에서 측정 결과를 얻을 수 있는 원격 모니터 인터페이스 (Remote Monitor Interface) 가 있으며, 온보드 키보드를 사용하여 로컬 제어 (Local Control) 도 사용할 수 있습니다. 또한 다양한 데이터 수집 시스템과 호환됩니다. 전반적으로 AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156C는 반도체 장치 특성 및 파라 메트릭 테스트에 이상적인 고급 다기능 테스트 시스템입니다. 높은 정확도, 해상도, 다양한 구성, 연결 옵션, 사용 편이성을 제공합니다. 이것은 현대 반도체 장치 특성 및 파라 메트릭 테스트 요구에 완벽한 선택입니다.