판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4156C #293773643

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156C는 트랜지스터, 다이오드, 집적 회로와 같은 다양한 전자 부품에 대한 정확하고 정확한 테스트를 위해 설계된 고급형 반도체 매개 변수 분석기입니다. 연구실· 반도체 제조설비· 반도체· 교육기관 등에 널리 쓰여 반도체 소자의 전기적 특성을 특징 짓고 있다. HP 4156C에는 광범위한 DC 및 AC 측정 기능을 제공하는 다양한 측정 시스템이 장착되어 있습니다. IV (current-voltage) 특성, CV (capacitance-voltage) 특성 및 높은 정확도와 해상도로 펄스 측정과 같은 다양한 매개 변수를 측정 할 수 있습니다. 따라서 운영 조건이 다른 반도체 (semiconductor) 디바이스에 대한 종합적인 성능 평가를 수행하는 데 이상적인 툴이 됩니다. AGILENT 4156C 의 주요 특징 중 하나는 유연하고 모듈식 (modular) 아키텍처로, 사용자는 특정 측정 요구 사항에 따라 시스템을 사용자 정의할 수 있습니다. 분석기의 메인프레임은 SMU (Source Measure Units), SMI (Switch Matrix Units), 펄스 생성기 (Pulse Generator) 등 다양한 플러그인 모듈을 수용할 수 있습니다. KEYSIGHT 4156C는 또한 테스트 루틴의 설치 및 실행을 단순화하는 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공합니다. 기기는 다양한 측정 기능에 대한 직관적인 탐색 및 액세스를 제공하는 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 제어됩니다. 사용자는 복잡한 프로그래밍 작업 없이 테스트 매개 변수를 쉽게 구성하고, 실시간으로 측정 결과를 보고, 데이터 분석을 수행할 수 있습니다. 또한, 4156C는 고속 장치 및 저전류 수준의 특성화가 가능한 고급 측정 기능을 제공합니다. 이 분석기는 고속 샘플링 속도와 저소음 성능으로, 일시적인 신호를 정확하게 포착하고 서브 피코 (sub-picoamp) 전류를 측정하여 최첨단 반도체 기술을 테스트하는 데 적합합니다. 또한 스윕 (sweep), 목록 (list), 펄스 (pulse) 모드 등 다양한 측정 모드를 제공하여 사용자가 동적 측정을 수행하고 시간에 의존하는 장치 비헤이비어를 캡처할 수 있습니다. HEWLETT-PACKARD 4156C는 또한 외부 기기 및 소프트웨어 도구와 통합되어 측정 유연성 및 자동화를 향상시킬 수 있습니다. 전반적으로 AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156C는 다양한 전자 부품에 대해 정확하고 안정적인 테스트 기능을 제공하는 고성능 반도체 매개 변수 분석기입니다. 다목적 측정 시스템, 유연한 아키텍처, 사용자 친화적 인터페이스, 고급 측정 기능을 통해 반도체 연구, 장치 특성, 생산 테스트 어플리케이션에 유용한 툴이 됩니다.