판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4155C #9000408

AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4155C
ID: 9000408
Semiconductor parameter analyzer General Features: Cost-effective, accurate laboratory bench top parameter analyzer 4x Medium-power SMU, 2xVSU and 2xVMU Fill-in-the blanks front panel operation Includes Desktop EasyEXPERT software for PC-based GUI instrument control Measurement Capabilities: 10 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by functions +/- 200 Volts and +/- 1 Amp High-Power SMU, Pulse Generator capabilities available by optional 41501B SMU Measurement Resolution: Voltage: 2 V Current: 1 fA SMU Measurement Accuracy: Voltage: 200 V Current: 20 fA SMU pulse width: 500 s/100 ms VMU: Resolution: 2 V Accuracy: 200 V VMU (differential): Resolution: 0.2 V Accuracy: 10 V Dual High Voltage Plus Generator: Voltage range: +/- 40V Output current: +/- 200 mA Minimum pulse width: 1 s Minimum pulse period: 2 s.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4155C는 다재다능하고 강력한 반도체 장치 테스트 장비입니다. 주파수 범위는 DC ~ 30MHz이며, 연구 개발 실험실 (R&D) 과 생산 라인에 사용하도록 설계되었습니다. HP 4155C (HP 4155C) 는 다양한 기능과 기능을 제공하여 반도체 장치의 품질과 성능을 테스트하는 데 매우 적합합니다. 또한 4 개의 입력 채널을 제공하여 여러 개의 장치를 동시에 측정할 수 있습니다. 또한 다이오드 커패시턴스-전압 (C-V), 고장 전압, 드레인-소스 저항 (Rds), 이동성, 전류-이득 대역폭, 임계 전압, 허가율, 전하 중성 등과 같은 다양한 장치 특성 및 측정 기능을 갖춘 고해상도, 안정적인 저소음 측정 기능을 제공합니다. 또한 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 결과를 손쉽게 보고 분석할 수 있으며 데이터 처리 속도를 높일 수 있습니다. AGILENT 4155C는 또한 정전기 방전 (ESD) 및 기타 환경 위험 (Environmental Hazard) 으로부터 시스템을 보호하는 데 도움이 되는 보호 주택 (Protective Housing) 을 포함하여 여러 가지 안전 기능으로 설계되었습니다. 또한 진단 및 배터리 백업 메모리가 내장되어 있어 지속적인 정확성과 안정성을 보장합니다. 고급 사용자의 경우, 4155C는 높은 수준의 프로그래밍 기능을 제공하여 사용자가 테스트 절차를 사용자 정의하고 자동화할 수 있도록 합니다. 소프트웨어 기반 프로그래밍을 통해 사용자는 테스트 매개변수를 제어, 저장하고, 테스트 조건을 최적화하고, 편리하게 사용자 정의 프로그램을 구축할 수 있습니다. 또한 고급 트리거 장치 (advanced trigger unit) 가 포함되어 있어 복잡한 이벤트를 보다 정확하게 감지하고 측정할 수 있으며, 보다 복잡한 측정도 수행할 수 있습니다. 전반적으로 HEWLETT-PACKARD 4155C는 강력하고 안정적인 반도체 장치 테스트 머신으로, 안정적이고 정확한 결과, 고급 사용자 정의, 향상된 안전 기능을 제공합니다. 이 제품은 디바이스 품질 측정, 디바이스 특성 최적화, 테스트 절차 자동화 등에 가장 적합한 솔루션으로, 연구 개발, 생산 등에 적합한 솔루션입니다.
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