판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 11713C #200107

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 11713C는 고속 집적 회로 (IC) 시스템을 만들고 분석하는 데 사용되는 고급 전자 테스트 장비입니다. 그것 은 진단 하기 어려운, 애매모호 하고 일시적 인 사건 들 을 시험 하기 위해 설계 되었다. HP 11713C는 TDR (Time Domain Reflectometry) 분석을 사용하는 흡수 백 반사 측정 시스템입니다. 이를 통해 사용자는 테스트 대상 장치의 임피던스 (impedance) 특성을 분석하거나, 신호 품질을 측정하거나, 문제를 해결할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 구성 가능한 스윕 레이트로 1GHz - 25GHz 주파수 범위 (1GHz - 25GHz) 를 질주할 수 있습니다. LXI 호환 AGILENT 11713C에는 조정 가능한 차동 전압 프로브, 디스플레이 모듈, ADC/DAC 변환기 및 신호 반사 교정 판이 장착되어 있습니다. 또한 RTDR (range time domain reflectometer) 및 BTDR (양방향 TDR) 기능이있는 2 개의 시간 도메인 반사계 채널이 있습니다. RTDR 채널은 단일 종료 측정을 허용하는 반면, BTDR 채널은 시스템의 반환 손실 (return loss) 및 위상 마진 (phase margin) 에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 또한 HEWLETT-PACKARD 11713C는 최대 8 개의 트리거 채널까지 다중 반환 손실을 측정 할 수 있습니다. KEYSIGHT 11713C의 주 장치에는 전원 공급 장치, 전원 스위칭을위한 멀티플렉서, S 매개 변수 수신기, 직접 액세스 레지스터 (DAR) 및 보드 서비스 모듈도 포함됩니다. DAR 레지스터를 사용하여 보드 기능을 제어할 수 있습니다. 보드 서비스 모듈은 각 보드의 전원 공급, 재설정, 재보정, 우선 순위를 지정하는 편리한 방법을 제공합니다. 또한 11713C는 PC에서 AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 11713C를 제어하는 직렬 프로그래밍 인터페이스 (옵션) 를 제공하는 프로세서 제어 카드를 포함합니다. 측정 기능 외에도 HP 11713C에는 여러 분석 및 디스플레이 도구가 있습니다. 여기에는 신호 측정 도구, X-Y 플롯, 실시간 파형 추적, FFT 분석, 오실로스코프 트리거 등이 포함됩니다. 이러한 모든 기능을 통해 AGILENT 11713C는 고속 통합 단어 디자인, 결함, 삽입 손실, 이벤트 및 펄스 전파 분석, 전자기 펄스 테스트 및 모델 검사에 적합합니다.