판매용 중고 ADVANTEST R3767CH #131954

장점 R3767CH (ADVANTEST R3767CH) 는 장기간 안정성과 성능을 보장하기 위해 반도체 장치 및 고주파 무선 주파수 부품에 대한 고성능, 정밀 측정을 제공하는 전자 테스트 장비입니다. 테스트 측정은 주파수 합성 및 검출기를 사용하여 수행됩니다. 이 장비는 사전 프로그래밍 된 사인 웨이브 신호 (sine wave signal) 및 주파수 카운터 (frequency counter) 세트를 사용하여 장치의 일련의 응용 주파수 신호에 대한 응답을 측정합니다. 반도체 장치 측정 테스트, 무선 주파수 구성 요소, 마이크로파 구성 요소 등 다양한 응용 프로그램이 있습니다. R3767CH 의 주요 기능은 디바이스에 적용된 입력에 대한 캐리어 주파수 (carrier frequency) 및 시간 도메인 (time domain) 응답을 측정하는 것입니다. 이 장치는 0.1millihertz의 해상도로 1Hz ~ 65GHz, 0.01 microhertz의 해상도로 66GHz ~ 110GHz의 광범위한 주파수를 측정 할 수 있습니다. 또한 최대 150dB의 넓은 동적 범위를 가지며, 정착 시간은 2.5m입니다. 장비의 기능에는 베이스 라인 및 주파수 응답, DC 전압 정확도 최대 0.3%, 신호 순도 최대 1kHz, 외부 기기 연결을위한 병렬 포트, 실시간 신호 분석 및 모니터링을위한 신호 저장 및 GSM 사인 생성기. 신호 테스트. 다른 기능으로는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI), 간편한 디지털 신호 처리 (DSP) 기능, 디지털 신호 처리 결과 분석을위한 디자인 디버그 어시스턴트, 고급 테스트 기능 및 기타 편리한 응용 프로그램이 있습니다. 장점 R3767CH는 현재 시장에서 사용 가능한 최고의 전자 테스트 장비 중 하나입니다. 경제적인 가격으로 고급 테스트 기능, 정확하고 안정적인 성능, 고급 진단, 광범위한 측정 (measuration) 어플리케이션을 제공합니다. 이 장치는 설계 및 개발, 생산 및 유지 보수 분야의 반도체 부품, 무선 주파수 (RF) 부품 및 마이크로파 (Microwave) 구성 요소의 테스트 및 측정에 이상적입니다. R3767CH 는 포괄적인 테스트/측정 툴을 제공하며, 디바이스 특성 및 성능 평가를 위한 강력한 솔루션을 제공합니다.