판매용 중고 ADVANTEST R3162 #9029408

ADVANTEST R3162는 집적 회로를 포함하는 장치 인 반도체 장치 테스트를위한 자동 테스트 장비 (ATS) 입니다. 최대 3GHz (3GHz) 의 신호를 적용하고 측정할 수 있는 범용, 매우 유연한 테스트 시스템입니다. 높은 다용성 및 자동화로 설계된 ADVANTEST R 3162 는 빠른 속도로 정확한 측정과 테스트 실행 기능을 제공합니다. R3162는 컨트롤러, 메인프레임 및 다양한 인터페이스 카드로 구성됩니다. 다양한 유형의 인터페이스 카드에는 임의의 파형 생성기 (AWG) 카드, 어레이 멀티 플렉서 (AM) 카드, 디지털 패턴 생성기 (DPG) 카드, 펄스 패턴 생성기 (PPG) 카드 및 고정 및 측정을위한 카드가 포함됩니다. 이러한 카드 조합을 통해 R 3162는 웨이퍼 수준 생산 테스트, 결함 진단, 펄스 피크 전류 측정, 주파수 도메인 측정, 고속 혼합 신호 측정 등 다양한 테스트를 수행 할 수 있습니다. 장점 R3162는 다양한 테스트 일정 및 프로브를 수용 할 수 있습니다. 표준 디바이스와 맞춤형 디바이스를 모두 테스트할 수 있습니다. 또한, 셔틀 핸드 픽스처 (shuttle hand fixture) 를 사용하여 테스트 사이트를 빠르고 효율적으로 로드하고 언로드할 수 있습니다. ADVANTEST R 3162는 여러 테스트 포트를 사용하여 높은 병렬 테스트를 실행할 수 있으므로 전체 테스트 시간이 단축됩니다. 또한 강력한 데이터 구입 기능을 제공하며, 데이터 획득 속도는 초당 최대 10,000 포인트입니다. 이 기능은 데이터 로깅 및 파형을 신속하게 분석하는 데 특히 유용합니다. 사용자 친화적인 소프트웨어는 설정 시간을 최소화하고 처리량을 최대화할 수 있도록 설계되었습니다. 이 소프트웨어는 지능형 마법사를 제공하는 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 빠르고 쉽게 테스트를 생성할 수 있는 드래그 앤 드롭 (Drag and Drop) 워크벤치를 갖추고 있습니다. 또한, R3162에는 통합 디버거 및 테스터 매니저 (tester manager) 가 장착되어 있어 사용자가 하나의 플랫폼에서 테스트 설계, 디버그, 모니터링을 편리하게 수행할 수 있습니다. 전반적으로, R 3162는 반도체 장치 테스트 응용 프로그램에 이상적인 강력한 다목적 테스트 머신입니다. 고도로 자동화되고 유연한 설계를 통해 가장 복잡한 디바이스 테스트 요구사항을 충족할 수 있도록 다양한 테스트 일정 (fixture) 과 프로브 (probe) 를 수용할 수 있습니다. 데이터 획득률 (Data Acquisition Rate) 과 결합한 지능형 소프트웨어로도 빠른 데이터 로깅 (Data Logging) 및 파형 분석 (Waveform Analysis) 기능을 선택할 수 있습니다.