판매용 중고 ADVANTEST D3286-70 #9090717

ADVANTEST D3286-70은 디지털 및 아날로그 IC의 고속, 전체 기능 테스트에 사용되는 고급 전자 테스트 장비입니다. 특유의 고속, 온칩 (on-chip) 테스트 기능을 통해 다양한 IC에 대한 정확하고, 빠르고, 일관된 테스트를 수행할 수 있습니다. D3286-70 (D3286-70) 은 고급 기능을 통해 비정상적인 칩을 선택적으로 감지하고 자세한 테스트 결과를 제공할 수 있습니다. 장점 D3286-70은 탁월한 성능과 정확성을 위한 최첨단 스캔 테스트 아키텍처를 갖추고 있습니다. 32 개의 256 채널 또는 64 개의 256 채널 병렬 메모리 액세스 배열이 장착되어 있으며, 이는 높은 테스트 데이터 처리량 3.4GB/s를 처리 할 수 있습니다. 또한 15GHz 이상의 테스트 주파수 기능이 있습니다. 또한 선택 가능한 감지 범위를 가진 10 개의 고속 비교기가 장착되어 있습니다. 또한, 재귀 프로세스를 통해 오류를 식별하는 자동 장애 로컬라이제이션 시스템 (Automatic fault localization system) 이 있습니다. D3286-70에는 간편한 테스트 개발 및 관리를 위한 그래픽 사용자 인터페이스가 있습니다. 온보드 데이터 로깅 (on-board data logging) 기능을 통해 결과를 기록하고, 나중에 분석하고, 실시간으로 시각화할 수 있습니다. 또한, 이전에 개발한 테스트를 저장하고 수정할 수 있는 테스트 라이브러리 (test library) 가 내장되어 있습니다. 또한 테스트 매개변수를 신속하게 설정하고 검사할 수 있는 테스트 제어 (Test Control) 및 모니터링 (Monitoring) 기능도 제공합니다. 장점 D3286-70에는 고속 프로브 및 점퍼 시스템이 포함됩니다. 이것들은 최소한의 로딩으로 IC 패드에 쉽고 정확한 연결을 제공합니다. 또한 최대 10 미터 떨어진 테스터와 통신 할 수있는 고속 IC 제어 장치 (IC Control Unit) 가 있습니다. 고급 자동화 기능을 통해 사용자는 복잡한 프로그래밍 없이 IC 테스트를 수행 할 수 있습니다. 정확한 테스트를 위해, D3286-70은 자체 테스트 기능과 교정 기능을 갖추고 있습니다. 또한 장치 성능의 미묘한 결함을 감지하고 진단 할 수있는 광파 탐지기 (light wave detector) 가 특징입니다. 마지막으로, AI 기반 알고리즘을 사용하여 매우 정확한 테스트 결과를 보장합니다. 전반적으로 ADVANTEST D3286-70은 고급 기능과 뛰어난 성능을 결합한 일종 IC 테스터입니다. 최고 수준의 테스트 데이터 처리량, 고속 비교기, 장애 로컬라이제이션 시스템 (fault localization system), 자동 기능 등을 갖춘 이 제품은 안정적이고 정확한 테스트 경험과 결과를 제공합니다. 고성능, 사용자 친화적 IC 테스트 솔루션을 필요로 하는 고객에게는 완벽한 선택입니다.