판매용 중고 ADVANTEST D 3186 #9085218

ADVANTEST D 3186은 반도체 장치의 성능을 테스트하고 분석하는 데 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 이 다기능 테스트 및 측정 장비는 반도체 장치 특성화 및 현대 생산 (al) 및 연구 실험실의 특성화에 사용하도록 설계되었습니다. 고속, 최고 6GHz, 고속 데이터 처리량 (최대 400MB/s) 을 제공하여 까다로운 전자 장치와 함께 사용할 경우 뛰어난 성능을 제공합니다. D 3186 은 모든 애플리케이션에 대해 광범위한 테스트 및 분석 기능을 제공합니다. 여기에는 다양한 측정, 테스트, 디버그 기능 (전체 실시간 지원 포함) 이 포함됩니다. 테스트 시스템에는 타이밍 분석, 파동-파 비교, 측정 매개변수 등의 강력한 파형 분석 도구가 포함됩니다. 또한 아날로그 및 디지털 파형 디스플레이 및 신호 컨디셔닝을 제공합니다. 전원, 주파수, 유추 등의 신호를 분석하고 특성화할 수 있습니다. 이 장치는 또한 반도체 소자 타이밍, 전류 및 전압 특성을 테스트하기위한 광범위한 치수 분석을 제공합니다. 또한, ADVANTEST D 3186에는 특정 테스트를 완료하는 데 걸리는 시간을 정확하게 측정 할 수있는 페이서 동기화 (pacer synchronization) 기능이 있습니다. 또한 병렬 모니터 포트 (Parallel Monitor Port) 를 통해 외부 시스템에서 테스터의 작업을 모니터링할 수 있습니다. 내장된 원격 제어 (remote control) 기능은 원격 작업이나 여러 개의 테스터를 제어하는 데에도 매우 유용합니다. 이 도구에는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 포함되어 있어 테스트 프로그램을 빠르게 설정하고 시각적 디스플레이에서 데이터를 볼 수 있습니다. 또한 외부 버스 (external bus) 를 통해 연결된 경우 여러 기기의 상세한 데이터를 볼 수 있습니다. 이 에셋은 여러 테스터 (Tester) 및 기타 관련 장비의 전력 소비를 모니터링할 수도 있습니다. D 3186 은 최신 반도체 장치를 테스트하고 분석하는 데 사용되는 고성능 테스트 및 측정 모델입니다. 고급 기능은 연구 및 생산 시설에 이상적입니다. 이 장비는 매우 안정적이고 사용이 간편하며, 사용자가 신속하게 정확한 테스트를 개발하고 복잡한 전자 신호를 분석 할 수 있습니다. 광범위한 테스트 및 분석 (testing and analysis) 기능을 통해 반도체 장치를 테스트, 분석, 특성화할 수 있는 강력한 툴입니다.