판매용 중고 TDBI DM 1900N #9177412
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ID: 9177412
빈티지: 2013
Burn-in tester
Chamber:
(1) Chamber
(1) Zone
ALPG: Per site
(24) Slots
Driver / BIB Ratio: 1 : 1
Slot pitch: 40 mm
Temp control range: -10° C ~ 150° C
Temp logging: Software logging
Temp rising time: 60 Min
Temp falling time: 60 Min
Pattern generator:
Method: ALPG
Max. test rate: 10ns (100MHz)
(2048) Micro steps
Address generator: 48bit (X:24bit, Y:24bit), Z:24bit for flash
Data generator: 18 Bit
Address arithmetic: +, -, <, >, <>, &, |, ^
Data arithmetic: '+, -, <, >, <>, &, |, ^, ~
Register sets: 18 Bit
(16) Nested loops: Loop 0 ~ loop 15
Mux mode: X-Y
Vector memory: 1M x 32 Bit
Index register arithmetic: +, -
Timing generator:
Cycle time range: 10 ns ~ 40.96 us
Cycle resolution: 100 ps
Timing resolution: 100 ps
Timing set: Multi groups (64) sets
Timing generator method: Edge mode
Edge setting range: 0 ns ~ 2 Rate – 10ns
(22) Clocks
(8) Scan clocks: Octal random scan
(2) DRE Clocks: I/O_A & I/O_B
(2) STB Clocks: I/O_A & I/O_B
Scramble generator:
Address scramble: Programmable
Address scramble method: Logic
Address scramble arithmetic:
AND, OR, EXOR, INVERT, XY MUXED
Data scramble: Programmable
Data scramble method: Logic scramble
Data scramble arithmetic:
AND, OR, EXOR, INVERT, I/O SEPARATE
Disable scramble: Programmable
Data & Address arithmetic: Muxed
(8) Scramble sets
Power:
No. of PS: PS1,2,3,4,5,6,7
PS range:
PS1/2/3/4: 0.5 ~ 5.0V / 30A
PS5: 1.0 ~ 15.0V / 10A
PS6/7: 0.6 ~ 5.0V / 4A
PS Merge mode: X
Voltage resolution:
PS1/2/3/4/5: 10.0 mV
PS6/7: 10.0 mV
Power noise: 100mV
Bump test
Power sequence
Driver / Comparator:
ISINK / ISOURCE: 24mA
VIH1: 1.0V ~ 3.3V
VIH2: 1.0V ~ 3.3V
VTH(Vol/Voh): 0.5V ~ 3.5V
Voltage set resolution: 10mV
Tr/Tf of Vih1 / VIh2: < 2ns ( @ no Load 3Vp-p)
Over / Under shoot: Less than ± 10%
Output channel:
Total VIH1 VIH2
Address 128 32ch x 4 -
Clock 88 11ch x 4 11ch x 4
Scan 32 4ch x 4 4 ch x 4
I/O 144 18ch x4 18ch x 4
(16) Ready / Busy
Impedance: 50Ω
Sofware:
System OS: LINUX (CENTOS)
PC:
Dual core 2.93GHz
DDR2 4GB
SATA 500GB
Program language: C++
Main OS: DMCircle
Compiler: DMEdit
Chamber control: DMChamber
Diagnostic: DMDiag
Result viewer: DMUtilviewer
2013 vintage.
TDBI DM 1900N (TDBI DM 1900N) 은 전자부품, 서브어셈블리, 시스템을 분석, 분석하여 향후 손실을 방지하고 제조 효율성을 높이기 위한 결함을 찾아내도록 설계된 고성능 번인 (burn-in) 장비입니다. 이 시스템에는 컴포넌트 테스트용 고밀도 VME 슬롯 4개, 실시간 디버깅용 멀티태스킹 프로세서 (Multi-Tasking Processor) 및 다른 작업에 맞게 조정할 수 있는 지능형 구성 엔진 (Intelligent Configuration Engine) 이 있습니다. DM 1900N 은 제어 가능한 고온 오븐과 직류 전력 장치 (direct current power unit) 와 함께 제공되며, 두 장치 모두 번인 (burn-in) 및 노화 (aging) 테스트에 사용할 수 있습니다. 최대 4개의 독립형 표준 VME 슬롯과 다양한 CompactPCI 슬롯을 갖춘 번인 (burn-in) 장치는 다양한 어플리케이션 요구를 충족하는 유연하고 다양한 솔루션을 제공합니다. 또한 다양한 아날로그/디지털 I/O, 다양한 임베디드 테스트/측정 구성 요소, 주변 장치 등을 지원합니다. TDBI DM 1900N 은 각 zone 에 대해 조정 가능한 세트 포인트로 최대 4 개의 burn-in zone 을 지원하므로 사용자가 필요한 정확한 온도를 설정할 수 있습니다. 기계는 또한 장치가 사양에 유지되도록 하는 데 사용되는 정교한 열 관리 도구 (thermal management tool) 를 가지고 있습니다. 또한 DM 1900N 에는 BURN (Burn-In) 프로세스 동안 모든 구성 요소를 지속적으로 모니터링하고 데이터 로깅 기능을 제공하는 통합 모니터링 자산이 있습니다. TDBI DM 1900N의 통합 가상 계측 (virtual instrumentation) 기능을 통해 사용자는 다양한 테스트 및 프로그래밍 알고리즘을 실행 및 분석할 수 있습니다. 또한 데이터 획득 및 신호 조정 (signal calibration) 구성 요소, 종합적인 분석 도구 및 종합적인 개발 환경을 갖추고 있습니다. 또한 확장 가능한 모델로, 필요에 따라 더 많은 기능과 기능을 추가할 수 있습니다. DM 1900N 은 안정성 및 성능에 대한 가장 엄격한 업계 표준을 충족할 수 있도록 구축되었으며, 가장 까다로운 환경을 위해 설계되었습니다. 결과적으로, 매번 신뢰할 수 있고 정확한 결과를 제공하는 것으로 믿을 수 있습니다.
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