판매용 중고 MICRON TECHNOLOGIES AMBYX #9013033

MICRON TECHNOLOGIES AMBYX (MICRON TECHNOLOGIES AMBYX) 는 최종 응용 프로그램에 사용하기 전에 컴포넌트 및 집적 회로를 테스트하기 위해 설계된 고성능 번인 (burn-in) 장비입니다. 이 시스템은 EIA/JEDEC 트레이 및 MIL-STD-750과 같은 다양한 산업 표준을 준수합니다. 또한, 이 제품은 뛰어난 처리량을 달성하고 번인 (burn-in) 주기 시간 및 성능 지표에 대한 까다로운 요구를 충족하도록 설계되었습니다. AMBYX 장치는 각 구성 요소에 대해 번인 (burn-in) 조건을 개별화하는 다중 세그먼트 프로세스 기능을 통합합니다. 이를 통해 여러 제품 부지에 걸쳐 일관성 있는 테스트 통과/장애 결과가 발생하며, 제품 수율도 향상됩니다. 이 머신은 여러 제품 유형을 동시에 처리하여 제품 설치 시간을 줄이고 총 처리량을 늘릴 수 있는 유연성 (Flexibility) 을 제공합니다 (영문). 또한 업계 표준 Windows 기반 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), LCD 디스플레이, 비디오 터미널 연결, 데이터 스토리지 및 테스트 결과를 보고하는 통신 기능을 갖춘 통합 컴퓨터 컨트롤러가 포함되어 있습니다. 또한 MICRON TECHNOLOGIES AMBYX는 다양한 매개변수에 따라 테스트를 사용자 정의할 수 있습니다. 여기에는 온도 및 진동 시뮬레이션 수준과 평균 전류 배수가 포함됩니다. 또한 AMBYX 설계에는 테스트 시뮬레이션을 개선하고 전체 처리량을 늘릴 수 있는 다양한 옵션 (옵션) 기능이 포함되어 있습니다. 예를 들어, 이 도구는 제어 및 테스트를 위해 IC의 데이터 버스 (Data Bus) 와 직접 인터페이스 할 수 있습니다. 따라서 IC 를 수동으로 연결할 필요가 없으며, 테스트 설치 및 실행 작업을 간소화할 수 있습니다. MICRON TECHNOLOGIES AMBYX에는 번인 관련 장애로부터 구성 요소를 보호하는 몇 가지 내장 기능이 있습니다. 예를 들어, 현재 드레인을 모니터링하고 조정하여 최대 안전 수준 (Safe Level) 을 초과하지 않도록 합니다. 또한 테스트 내내 일정한 온도 프로파일을 유지하며 전류 처짐과 과전압 (over-voltage) 조건을 감지하고 완화하도록 특별히 설계된 마이크로 컨트롤러 (micro-controller) 가 포함되어 있습니다. 이로 인해 구성 요소가 실수로 손상되지 않습니다. 사용자 친화적 인 AMBYX 인터페이스는 작동이 매우 간단합니다. 메뉴, 기호, 그래픽 출력의 직관적인 자산으로 인해 테스트 진행 상황을 쉽게 모니터링할 수 있습니다. 또한, 자동 재시작 (auto-restart) 기능도 포함되어 있어 정전 후 현재 위치에서 burn-in 사이클을 다시 시작합니다. 이를 통해 제품 무결성과 성공적인 burn-in 기회를 확보할 수 있습니다. 전반적으로 MICRON TECHNOLOGIES AMBYX는 레코딩 테스트를 위한 업계 최고의 성능과 신뢰성을 제공합니다. 유연성, 맞춤형 구성, 보호 기능을 통해, 고성능 자동 BURN (Burn-in Testing) 장비를 필요로 하는 고객에게 안정적이고 경제적인 솔루션이 될 수 있습니다.