판매용 중고 JEC / JAPAN ENGINEERING COMPANY PROFIT-1500H #9282491

JEC/JAPAN ENGINEERING 회사 PROFIT-1500H는 다양한 IC (Integrated Circuit) 번 인 테스트 응용 프로그램을 지원하도록 설계된 번 인 장비 솔루션입니다. 모든 유형의 IC 디바이스 테스트에 적합하며, 특정 BURN (Burn-in) 테스트 요구 사항을 충족하는 포괄적인 맞춤형 구성 옵션을 제공합니다. 이 시스템에는 정확한 온도 조절 (temperal control), 균일한 열 사이클링 (uniform thermal cycling), 조정 가능한 테스트 시간 및 민감도를 보장하는 열 관리 모듈이 포함되어 있습니다. 또한 데이터를 기록하고 열 프로파일을 관리하기위한 동적 데이터 수집 모듈 (Dynamic Data Collection Module) 을 제공합니다. 이 장치에는 모든 burn-in 테스트 작업에 대한 단일 지점 제어를 제공하기 위해 2 개의 컨트롤러 회로가 장착되어 있습니다. JEC PROFIT-1500H 는 사용자에게 뛰어난 유연성과 확장성을 제공하므로 BURN (Burn-in Testing) 환경을 사용자 정의하여 애플리케이션 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 88 비트 DAC (digital-to-analog converter) 와 PCI 버스 기반 데이터 획득 및 제어 보드로 구동되어 높은 정확성과 안정성을 제공합니다. 일본 엔지니어링 회사 인 PROFIT-1500H (PROFIT-1500H) 는 또한 실시간 임베디드 (embedded) 운영체제를 Linux 프로그램 실행 기능과 통합하여 테스트 설계 및 결과 분석 시 최대의 제어 및 유연성을 제공합니다. 다양한 아날로그, 디지털 입력, 출력 FIFO 연결을 지원하여 안정성과 유연성을 극대화하여 손쉽게 확장할 수 있습니다 (영문). 이 도구의 다양한 설계를 통해 사용자는 특수 테스트 패턴 (specialized test pattern), 온도 범위 설정 (setting temperature range) 및 여러 열 사이클링 시퀀스 실행 (executing multiple thermal cycling sequence) 을 선택하여 모든 유형의 IC 장치에 대해 번인 테스트를 수행할 수 있습니다. 또한 PROFIT-1500H 에는 일반적으로 사용되는 디바이스 및 적절한 테스트 시나리오에 관한 포괄적인 정보 라이브러리가 포함되어 있습니다. 종합적인 번인 자산 솔루션인 JEC/JAPAN ENGINEERING 회사 PROFIT-1500H는 기술 고급 환경에서 IC 장치 테스트의 특화된 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 유연성, 정확성, 신뢰성을 제공하여 성공적인 테스트와 안정적인 결과를 보장하도록 설계되었습니다.