판매용 중고 JEC / JAPAN ENGINEERING COMPANY ATML-Z-E41Z #9399992

JEC/JAPAN ENGINEERING 회사 ATML-Z-E41Z 번인 (burn-in) 장비는 장치의 최종 조립 전에 전기 및 전자 부품을 스트레스로 테스트하도록 설계된 반자동 장치입니다. 트랜지스터, 반도체, 집적회로, 광전자 등 다양한 구성 요소를 테스트할 수 있습니다. JEC ATML-Z-E41Z burn-in 시스템은 연구 및 개발, 제조 및 생산 환경에서 사용하도록 설계되었습니다. 일본 엔지니어링 회사 ATML-Z-E41Z 번인 장치는 4 가지 주요 구성 요소 (번 인 챔버, 전자 제어 장치 (ECU), 테스트 인터페이스 및 테스트 헤드) 로 구성됩니다. 번인 챔버 (burn-in chamber) 는 부품과 연결을 수용하는 장치의 본체입니다. 0-100 ° C에서 조정 가능한 온도 설정이 있습니다. 번인 챔버 (burn-in chamber) 의 측면 패널을 열어 테스트할 때 컴포넌트를 배치하거나, 번인 컴포넌트를 제거할 수 있습니다. ECU (Electronic Control Unit) 는 중앙 컴퓨터 머신으로, 번 인 챔버를 제어하는 데 필요한 하드웨어와 소프트웨어가 들어 있습니다. 또한 사용자 설정 및 측정 데이터 모두를 위한 온보드 스토리지 툴도 포함되어 있습니다. 테스트 인터페이스는 ECU, 테스트 헤드, 테스트할 구성 요소 간에 연결됩니다. 테스트 인터페이스 끝에 배치되는 테스트 헤드 (Test Head) 는 테스트 중인 컴포넌트에 연결되며, 번 인 (Burn-in) 프로세스에 필요한 전원을 제공합니다. ATML-Z-E41Z 번인 (burn-in) 자산은 매우 다용도로 설계되어 특정 온도, 전압 설정 및 전류 한계를 프로그래밍할 수 있습니다. 이 모델에는 가변 전압 범위 모니터링, 타이밍 시스템, 주기적 펄싱 기능 등의 기능도 포함되어 있습니다. 또한 번인 (burn-in) 장비는 테스트 중인 구성 요소의 원하지 않는 변경 사항이나 장애를 모두 감지할 수 있으므로 번인 (burn-in) 프로세스를 진행하기 전에 즉시 조정할 수 있습니다. JEC/JAPAN ENGINEERING 회사 ATML-Z-E41Z burn-in 시스템은 컴포넌트가 최종 어셈블리에 배치되기 전에 고품질 상태인지 확인합니다. 다재다능성과 첨단 기술로 전자산업 내 연구개발 (R&D)· 생산의 소중한 도구다.