판매용 중고 HERAEUS HEP 21 #9222844

HERAEUS HEP 21은 고출력 집적 회로 제조를 위해 HERAEUS Electronics에서 개발 한 번인 테스트 솔루션입니다. 프로세스 시간을 줄이고 온보드 와이어 배치를 개선하도록 설계되었습니다. HEP 21 시스템은 고출력 집적 회로 (IC) 의 균일성을 테스트하는 데 사용됩니다. 적응성이 뛰어나고 자동화되고 효율적인 burn-in 프로세스를 제공하여 균일성에 대한 IC를 평가합니다. 제어 캐비닛, 여러 개의 버너 카드 및 난방 보드로 구성됩니다. HERAEUS HEP 21 컨트롤 캐비닛에는 사용자가 각 레코딩 주기 (전력 소비량, 주기 지속 시간 및 온도) 에 대한 설정을 조정할 수 있는 사용자 친화적 인 터치 스크린이 있습니다. 또한 여러 A/D 및 D/A 변환 채널, 여러 아날로그 입력 및 디지털 입력 및 출력이 포함됩니다. 이 구성 요소는 각 버너 카드 및 각 난방 보드에 연결됩니다. 버너 (burner) 카드에서 사용자는 보드에 적용된 광범위한 전원 또는 이산 전류 배율 조정 (discrete current scaling) 을 선택할 수 있습니다. 히터 보드는 집적 회로에 전원을 공급합니다. 전원 프로파일을 쉽게 사용자 정의하고 미리 설정할 수 있습니다. 번인 (burn-in) 프로세스는 히터 보드에 DC 또는 3 상 AC 전원을 적용하여 미리 설정된 시간과 온도로 시작합니다. 이를 통해 전력 소비의 결함을 확인할 수 있습니다. 온도가 목표 수준에 도달하면 HEP 21 시스템은 여러 가지 제어 단계에서 온도를 순환하고 전류, 전압, 소비 전력을 모니터링합니다. 사전 설정 주기가 완료되면 장치가 꺼지고 "집적 회로 (integrated circuit)" 가 기능 테스트를 거칩니다. burn-in 프로세스 (예: 전력 소비량 및 온도) 와 관련된 모든 데이터는 추가 분석을 위해 로그에 수집되어 기록됩니다. 전반적으로 HERAEUS HEP 21은 고출력 IC 제조에 사용되는 효율적인 화상 테스트 솔루션입니다. 집적 회로가 균일하고 신중하게 테스트되어, 전반적인 프로세스 시간과 비용을 줄이고, 온보드 와이어 배치를 개선합니다.