판매용 중고 AEHR Z00167351 #9017522

AEHR Z00167351은 전원 트랜지스터, 커패시터, 옵토 커플러, 메모리, 집적 회로 (IC) 등 다양한 전자 부품에 대해 신뢰성 있는 테스트 및 번인 (burn-in) 솔루션을 제공하도록 설계된 최고의 번인 장비입니다. 이 시스템은 열 노화 (thermal aging) 및 사전 검증 (pre-qualification) 테스트에서 동시에 탁월한 성능으로 인정 받고 있습니다. 이 장치는 IR 카메라와 함께 고성능 X- 레이 (X- Ray) 시스템을 사용하여 구성요소가 안정성과 기능을 확인하기 위해 정밀 테스트를 거쳐 BURN (Burn-In) 되도록 합니다. 이 도구에는 모노크롬 비전 에셋 (Monochrome Vision Asset) 및 이미지 오버레이 모델 (Image Overlay Model) 과 같은 다양한 비디오 관찰 기능도 포함되어 있습니다. x-ray 장비는 HiX-TRM-3000 이미지 캡처 기술을 사용하여 빠른 열 순환 시스템을 구축합니다. 이 단위는 최대 20 kHz 함수에서 50 ° C ~ 150 ° C 온도를 순환하여 빠르고 효율적인 화상 처리를 가능하게합니다. 또한 온도커플을 사용하여 테스트 절차 전반에 걸쳐 원하는 온도를 지속적으로 모니터링하고 유지하고 SOJ, TSOP, J Type, PQFP 등을 포함한 다양한 IC 패키지에 대한 평가를 지원합니다. Z00167351 머신은 또한 테스트 및 레코딩 (burn-in) 프로세스를 용이하게 하기 위해 다양한 기능을 제공합니다. 한 번에 최대 16 개의 디바이스 테스트를 지원하며, 사용자에게 친숙한 프로그래밍 인터페이스를 통해 테스트 매개변수 (testing parameter) 와 구성 (configuration) 을 변화시킬 수 있습니다. 또한 다양한 데이터 획득/분석 (Data Acquisition and Analysis) 기능을 통해 테스트 및 BURN 절차를 손쉽게 추적하고 모니터링할 수 있습니다. 강력하고 안정적인 테스트 및 Burn-in 솔루션을 찾고 있다면 전반적인 AEHR Z00167351 BURN (Burn-In) 툴을 선택할 수 있습니다. x- 레이 기반의 열 사이클링 (thermal cycling), 다양한 비디오 관측 기능, 사용자 친화적 인 프로그래밍 (user-friending programming) 을 갖춘 이 자산은 사용자가 필요로 하는 신뢰할 수 있는 테스트 및 번 인 (burn-in) 성능을 제공합니다.