판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #147177

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ID: 147177
Surface scanner profilometer De-installed and crated.
VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si는 실리콘 및 화합물 반도체 기판의 두께와 프로파일을 측정하는 데 탁월한 정확성과 반복성을 제공하는 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. V-200 은 자동화된 인라인 (in-line) 모드와 수동 (manual) 플랫폼 모드 모두에서 작동하도록 설계되었으며, 이를 통해 웨이퍼의 신속한 프로세스 측정 및 특성화가 가능합니다. V-200 은 고급 광 감지 서브시스템과 광학적으로 정확한 3 축 스캐너 (scanner) 를 갖추고 있어 동작 및 프로파일을 정확하게 측정할 수 있습니다. 최대 7.62mm (300 마일) 의 수직 스캐닝 범위와 15.25mm (600 마일) 의 수평 스캐닝 범위는 큰 기판에 충분한 측정 영역을 제공합니다. V-200 은 정확한 스캐닝 기능과 더불어 프로세스 개발, 운영, 연구 애플리케이션을 위한 다양한 데이터 수집, 분석, 보고 기능을 제공합니다. 이 소프트웨어는 테스트 및 도량형 프로세스의 전체 자동화와 수동 제어 (수동 제어) 를 허용하며, 스텝 높이, 피트, 피크 트래버스를위한 자동 루틴 (automated routine) 을 제공합니다. V-200 은 다양한 운영자 친화적 기능을 제공하여 정확성과 반복성을 보장합니다. 광학 플래튼 (optical platen) 이 특징이며, 이는 정렬 문제를 제거하기 위해 샘플 레벨에서 정확한 치수 참조를 제공합니다. 이 시스템은 또한 LED 프로파일링 장치 (LED profiling unit) 를 갖추고 있으며, 전체 측정 범위에 걸쳐 균일한 조명과 정확한 프로파일 측정을 제공합니다. 또한 인라인 모드에서는 특허를 받은 '자동 정렬 초점 (Auto Align Focus)' 프로세스를 사용하여 정확한 정렬 및 반복성을 달성하며, 여기에는 거친 조정 기능과 미세한 조정 기능이 모두 포함됩니다. V-200에는 렌즈 조명기 (Lens Illumination Machine) 도 장착되어 있어 광학 및 렌즈 품질과 관련된 작동 문제를 제거하고 균일 한 조명을 생성합니다. 이 도구는 또한 생산성을 높이기 위해 다양한 광학 렌즈와 트릭을 허용합니다. V-200 은 현장에서 검증된 플랫폼을 기반으로 제작되었으며, 제조 프로세스 전반에 걸쳐 품질 점검 (Quality Check) 을 통해 장기적인 내구성과 안정성을 보장합니다. 이 자산은 고도로 숙련된 엔지니어 (Engineer) 와 엔지니어 (Technician) 팀이 지원하며 필요에 따라 일상적인 유지 보수 및 지원을 제공합니다. V-200 은 다양한 고성능 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 모델로, 웨이퍼의 빠른 프로세스 측정 및 심층 특성을 모두 지원합니다. 고급 옵틱, 고급 동작, 프로필 스캔, 직관적인 사용자 인터페이스, 자동화 기능을 갖춘 V-200 은 정확하고 반복 가능한 결과를 빠르고 쉽게 제공합니다.
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