판매용 중고 NANOMETRICS FLX F6 #172531

NANOMETRICS FLX F6은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 유연한 하드웨어 아키텍처를 통해 탁월한 검사 및 도량형 성능을 제공합니다. 이것은 보이지 않거나 간헐적 인 결함을 감지하는 독특한, 이미지 기반의 자동 검사 방법을 특징으로합니다. 고해상도 CCD 카메라를 사용하여 웨이퍼의 단면을 신속하게 캡처한 다음 고급 (advanced) 알고리즘을 사용하여 현재 결함을 감지하고 분류합니다. 또한 다양한 분석 도구 (analysis tools) 를 사용하여 사용자에게 샘플에 대한 정확하고 세밀한 데이터를 제공합니다. 이 시스템은 다양한 강력한 이미지 분석 (image analysis) 및 도량형 (metrology) 도구를 사용하여 신뢰할 수 있고 반복 가능한 결과를 제공합니다. 고급 알고리즘을 사용하여 결함을 감지하고 분류하여 빠르고 정확하게 식별할 수 있습니다 (영문). 또한 FLX F6 는 표면 거칠기, 입자 크기, 패스/장애 분석 등 다양한 측정 및 분석 기능을 지원합니다. 이 장치에는 여러 가지 다른 기능이 있어 사용자가 최고의 성능을 얻을 수 있도록 합니다 (영문). 이미지 품질과 해상도를 향상시키는 고급 광학 시스템 (Advanced Optical Machine) 과 각 샘플의 성능을 최적화하는 적응형 이미지 처리 기능 (Adaptive Image Processing Features) 이 포함되어 있습니다. NANOMETRICS FLX F6에는 샘플을 수정하고 표면 손상을 제거하는 독특한 비 터치 (non-touch) 방법론도 포함되어 있습니다. 또한 사용자 친화적인 GUI (Graphical User Interface) 와 각 애플리케이션과 관련된 고급, 사전 프로그래밍된 이미지 라이브러리를 통해 사용자에게 매우 편리합니다. FLX F6 는 완전히 자동화되어 원격으로 작동할 수 있으므로, 사용자는 먼 거리에서 프로세스를 모니터링할 수 있습니다. 자산은 또한 광범위한 소프트웨어 패키지와 호환되며, 이를 통해 기존 시스템에 쉽게 통합하여 추가 분석 (analysis) 할 수 있습니다. 전반적으로 NANOMETRICS FLX F6은 종합적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델로, 정확한 웨이퍼 검사 및 도량형 분석을 제공합니다. 연구와 산업용 애플리케이션 (industrial applications) 과 고급 기능 (advanced features) 모두에 적합하므로 사용자가 최상의 결과를 얻을 수 있습니다.