판매용 중고 LOGITECH GI 20 #71641

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ID: 71641
Flatness Measurement System Suitable for lapped and polished surfaces up to 6" diameter This grazing incidence interferometer allows rapid and accurate measurements to be made “in process” and displays the interogram on a 7" CRT 110V, 60 Hz, 1.6A.
LOGITECH GI 20은 반도체 장치의 생산 및 품질 보증을 위해 설계된 종합적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 전자 전도도 분석 (electron conductivity analysis) 에서 응력 측정 (stress measurements) 및 화학 샘플 테스트 (chemical sample testing) 에 이르기까지 다양한 응용 분야에 사용될 수있는 유연하고 신뢰할 수있는 시스템입니다. GI 20은 웨이퍼 서명, 처리, 패턴, 오염 스캐닝 및 테스트 도구를 갖춘 높은 처리량을 위해 설계되었습니다. 모듈식 (modular) 설계를 통해 사용자의 구체적인 요구에 따라 사용자 지정 및 확장이 가능합니다. 또한 스캐닝 그리드가 5 미크론, 도량형이 5 나노 미터 인 정밀 처리량을 제공합니다. 이 장치에는 프로세스 자동화, 통계 테스트 데이터 분석, ISO 9001 호환 보고, 종합적인 데이터 관리 등의 기능을 제공하는 통합 하드웨어/소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. 전기 화학 임피던스 분광법, 열 저항 테스트, 프로버 이미징, 표면 응력 테스트 등 측정을 수행하는 다양한 센서가 통합되어 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 웨이퍼 특성, 결함 감지, 패턴 인식을위한 강력한 알고리즘 라이브러리를 제공합니다. 또한 패키지에는 슬라이싱, 클리닝, 레이저 프로파일링 등 다양한 웨이퍼 처리 도구가 포함되어 있습니다. 이 기계는 AutoLithography 시스템, 로봇 암, 원격 계측 등 다양한 액세서리와 함께 사용할 수도 있습니다. 사용자는 원격으로 공구 데이터에 액세스하고, 자산을 프로그래밍하여 복잡한 프로세스를 수행할 수 있습니다. LOGITECH GI 20은 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 효율적이고 안정적인 모델입니다. 최신 도구와 기술을 결합하여 정확성과 처리량을 향상시킵니다. 이 제품은 안전성과 사용 편의성을 염두에 두고 설계되었으며, 다양한 어플리케이션을 위한 광범위한 기능을 제공합니다 (영문).
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