판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX NC 110 Omnimap #69367

KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimap은 반도체 웨이퍼의 테스트 및 도량형을 위해 설계된 정교한 도구입니다. 이 장비는 다양한 기능을 제공하여 고급 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 도량형 (metrology) 을 수행하려는 업계 전문가에게 이상적인 선택입니다. KLA NC 110 Omnimap 시스템은 완전히 통합 된 최첨단 컴퓨터 장치로 구동되는 TomoVainTM max _ chroma 이미징 기술을 포함하는 KLA 이미징 플랫폼을 기반으로합니다. TENCOR NC 110 옴니맵 (Omnimap) 은 고해상도 이미징 기능을 사용하여 광범위한 웨이퍼에서 표면 오염과 결함 입자를 모두 감지하고 측정하도록 설계되었습니다. 이 기계에는 4 파장 타원법, 지형 및 분광법과 같은 고급 광학 기능도 있습니다. 또한, 이 도구는 웨이퍼에서 매우 얇은 필름의 두께를 측정 할 수 있으며, 웨이퍼 (wafer) 도량형을위한 강력하고 정확한 도구입니다. NC 110 옴니맵 (Omnimap) 자산은 사용하기 쉽고 효율성을 높이기 위해 다양한 사용자 친화적 인 기능과 직관적인 소프트웨어로 설계되었습니다. 이 모델은 외부 시스템에 연결할 수 있으며, 여러 공구의 측정 데이터를 추적, 저장, 비교할 수 있습니다. 또한, 통합 소프트웨어 패키지를 사용하면 데이터 보고서 및 분석 툴을 쉽고 빠르게 액세스할 수 있습니다. 이는 웨이퍼 제조 및 품질 제어에 이상적인 솔루션입니다. PROMETRIX NC 110 Omnimap 장비도 신뢰성이 높으며 원격 진단 및 문제 해결을 지원합니다. 또한 작은 결함을 감지하고 비파괴 (non-destructive) 테스트를 수행하여 광범위한 애플리케이션에 적합합니다. 고급 기능 세트와 강력한 감지 기능을 갖춘 KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 옴니맵 (Omnimap) 은 고정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형이 필요한 산업에 이상적인 선택입니다.