판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX 6200 Surfscan #9212150

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체 웨이퍼의 웨이퍼 표면 분석 및 도량형을 위해 설계되었습니다. 광학 현미경 (OM), 스펙트럼 반사율 (SR), 표면 프로파일로미터 (SP), 원자력 현미경 (AFM), 산란 측정법 (SC) 및 광학 CD (OCD) 등 여러 기술을 단일 도구에 통합합니다. KLA 6200 Surfscan은 스텝 높이, 평평, 미세, 로컬 두께, 지형, 구성 및 굴절률을 포함한 광범위한 표면 기능을 빠르게 측정 할 수 있습니다. 이러한 매개변수는 웨이퍼 서피스의 품질을 결정하는 데 도움이 되는 필수 데이터입니다. 고해상도 광학 현미경과 분광계를 통해 TENCOR 6200 Surfscan은 미세한 표면 뉘앙스를 감지 할 수 있습니다. 6200 Surfscan 은 다양한 데이터를 얻을 수 있을 뿐만 아니라, 독보적인 자동 제어 시스템을 갖추고 있습니다. 이 단위는 다양한 유형의 서피스를 수용하도록 측정 매개변수의 자동 조정을 용이하게 합니다. 이렇게 하면 사용자가 필요한 모든 테스트 (test) 를 쉽고 빠르게 수행할 수 있습니다. PROMETRIX 6200 Surfscan의 데이터 획득 기계도 효율적이고 안정적입니다. 이 도구를 사용하면 여러 개의 판독값을 동시에 얻을 수 있습니다. 그런 다음, 판독값은 향후 참조를 위해 자산의 내부 메모리에 저장됩니다. 이 메모리는 다양한 종류의 애플리케이션별 분석도 지원합니다. KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan에는 큰 LCD 화면이 있는 직관적인 사용자 인터페이스도 장착되어 있습니다. 따라서 사용이 간편한 환경으로, 명령을 빠르고 명확하게 실행할 수 있습니다. 또한 터치 스크린 기능은 모델을 더욱 사용자 친화적으로 만듭니다. 전반적으로 KLA 6200 Surfscan은 반도체 웨이퍼 분석을 위해 사용하기 쉽고, 안정적이며, 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 광범위한 데이터를 신속하게 수집하고, 향후 참조를 위해 정확하게 저장할 수 있습니다. 자동 제어 시스템은 필요에 따라 측정 매개변수를 조정합니다. 마지막으로, 사용자에게 친숙한 인터페이스를 통해 장치를 쉽게 작동하고 제어할 수 있습니다.