익숙한 KLA / TENCOR AIT XP+ 판매용

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ID#: 173057 제조사: KLA / TENCOR 모델: AIT XP+ 범주: WAFER TESTING AND METROLOGY 포도 수확: 2001 장비 세부 정보: Patterned wafer inspection system AIT-III upgraded to AIT-XP Standard throughput High sensitivity throughput: 120 nm spec; 90 nm in practice No Bright Field Good sensitivity on metal coated wafers Dual EFAM: (25) wafer, 8" insert in 12" FOUP (25) wafer, 12" FOUP 2001 vintage.
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