판매용 중고 CAMECA TOF-IMS 4F #9351327

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제조사
CAMECA
모델
TOF-IMS 4F
ID: 9351327
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS).
CAMECA TOF-IMS 4F는 표면과 인터페이스를 연구하기 위해 CAMECA에서 개발 한 고성능 2 차 이온 질량 분석기 (SIMS) 입니다. 디자인은 TOF (Time-of-flight) 질량 분석 기술과 4 필드 이온 광학 장비를 기반으로합니다. 이 기기는 2 차 이온 소스를 사용하여 샘플 표면을 향한 집중된 이온 빔을 생성합니다. 이온은 샘플의 깊이 프로파일 (depth profile) 에서 상호 작용하기 때문에 샘플과 상호 작용하여 서피스와 인터페이스의 깊이 프로파일링 (depth profiling) 및 특성 (characterization) 을 허용합니다. 2 차 이온은 질량 대 충전 비율에 따라 분리되고 MCP 검출기를 사용하여 검출된다. 시스템의 TOF 특성을 통해 질량 스펙트럼 및 포괄적 인 원소 식별을 빠르게 얻을 수 있습니다. TOF-IMS 4F 장치는 공간 해상도가 개선되어 더 정확한 깊이 프로파일링 및 이미징이 가능합니다. 이온 광학은 플라즈마 소스 음극, 차동 추출 기계, 이온 거울 및 2 차 전자 억제기로 구성됩니다. 이온 광학 도구를 사용하면 샘플 표면에서 고해상도 2 차 이온 질량 스펙트럼을 빠르게 얻을 수 있습니다. 가스 커플 링 된 저에너지 전자 검출기 (GC-LEED) 는 샘플 표면을 영상화하는 데에도 사용될 수있다. CAMECA TOF-IMS 4F는 또한 표면 분석, 재료 특성, 원자 층의 깊이 프로파일 링, 표면 구조의 이미징 및 샘플 특성화와 같은 광범위한 응용 프로그램을 제공합니다. 에셋은 반도체 특성, 표면 및 인터페이스 분석, 오염 특성, 고장 분석 등 요소 식별 및 표면 분석 응용 프로그램에도 사용될 수 있습니다. TOF-IMS 4F는 재료 연구를위한 강력하고 다양한 도구이며, 높은 감도와 속도, 낮은 전력 소비량, 뛰어난 샘플 특성 기능을 제공합니다. 또한 추가 기능을 위해 추가 액세서리를 사용하여 모델을 업그레이드할 수 있습니다.
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