판매용 중고 HITACHI WA 3300 #9232735

HITACHI WA 3300은 다양한 샘플의 고해상도 이미징 및 분석을 제공하기 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 제품은 초점 안정성 최적화, 이미지 해상도 향상, 작동 속도 및 처리량 향상을 위한 고급 Abbe 및 현장 방출 (Field Emission) 기술을 갖추고 있습니다. 기기의 1 차 기둥에는 FEG (Field Emission Gun) 와 고전압 전원 공급 장치가 장착되어 있어 초점 깊이와 구형 수차가 감소합니다. 이를 통해 다양한 확대/축소율에서 동시에 더 높은 해상도의 이미징 및 이미지 안정성을 구현할 수 있습니다. 이 기기는 저배율 (큰 샘플에 이상적) 에서 초고배율까지 다양한 오브젝티브 렌즈로 작동 할 수 있습니다. 자세한 표면 분석에 적합합니다. MAS (Mass Analysis System) 는 초고성능 지연 라인 검출기와 높은 안정성 2 차 전자 검출기를 모두 갖춘 고도로 통합 된 1 차 및 2 차 열을 통해 매우 빠른 이미지 입수를 제공합니다. MAS는 또한 반도체, 금속, 세라믹 및 유기 재료 등 광범위한 물질을 관찰하기위한 높은 민감도를 제공합니다. EBFS (Electron Beam Focusing System) 는 HITACHI WA3300의 강력하고 강력한 기능으로, 빔 횡단 및 세로 위치를 조정하여 최적의 샘플링 빔에 편리한 빔 제어를 제공합니다. 이 피쳐는 서피스가 고르지 않거나 복잡한 피쳐가 있는 샘플에 특히 유용합니다. WA-3300 은 또한 고유한 이미징 및 분석 시스템 (Imaging and Analysis System) 을 갖추고 있어 이미징 및 분석 시 이미징 매개변수를 실시간으로 관찰하고 최적화할 수 있습니다. 실시간 전자 빔 최적화 프로세스는 SEM 운영의 복잡성을 단순화하며, 작업 흐름을 간소화하여 운영 효율성과 분석 시간을 단축합니다. 마지막으로 WA3300 에는 자동 샘플 준비 장치, eucentric automated stage 옵션, 디지털 SEM 이미지 프로세서, 다양한 데이터 분석 및 인수 시스템 등 다양한 SEM 액세서리가 있습니다. 이러한 구성요소는 사용 편의성과 높은 수준의 성능과 결합하여 WA 3300 을 다양한 샘플 분석 (sample analysis) 및 이미지 처리 (imaging) 애플리케이션에 이상적인 선택으로 만듭니다.