판매용 중고 HITACHI SU-8200 #293607340

HITACHI SU-8200
ID: 293607340
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI SU-8200은 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 사용자가 고도의 해상도로 초미세 구조를 시각화 할 수 있습니다. 전자 광학 구성은 최대 500kV의 확대 전력과 1 pA의 프로브 전류 해상도를 제공합니다. 주요 목적 "렌즈 '는 실제 크기 의 수천 배 까지 표본 을 확대 할 수 있다. 이렇게 하면 일반적으로 다른 현미경 시스템에서 보이지 않는 현미경 (microscopic) 기능을 보고 분석 할 수 있습니다. 다른 시스템과 비교하여, SU-8200은 광범위한 최신 기능과 기술을 제공하여, 백스캐터링 된 전자 이미징, 저 진공 전자 에너지 증착, 그라디언트 샘플 스캐닝 (gradient sample scanning) 과 같은 새로운 이미징 기술을 사용할 수 있습니다. 또한 자동 압력, 교수형 낙하, 흔들림 단계 등 현미경 표본에 대한 다양한 샘플 준비 솔루션을 제공합니다. 현미경 시스템은 또한 샘플 틸트 스캐닝 (sample-tilt scanning) 과 최대 1300: 1의 줌 비율 (zoom ratio) 을 갖춘 고급 SEM 단계를 갖추고 있으며, 사용자는 최대 1.9nm의 해상도까지 작은 표본을 확대 할 수 있습니다. 게다가, 이 기능이 풍부한 현미경은 원소 매핑 (elemental mapping) 과 화학 분석 (chemical analysis) 을 포함한 다양한 분석 방법을 지원하며, 높은 정확도와 효율성을 제공합니다. 시스템의 통합 이미지 분석 (Integrated Image Analysis) 소프트웨어는 이미지 임계값, 추상 패턴 인식 등 다양한 이미지 처리 도구를 제공하도록 설계되었습니다. HITACHI SU-8200 의 다른 기능으로는 자동화된 스테이지 정렬 시스템, 프로그래밍 가능한 샘플 홀더, 빠르고 효율적인 이미징을 위한 직관적인 인터페이스 등이 있습니다. SU-8200 스캐닝 전자 현미경은 정밀도와 정확도가 높은 다양한 현미경 표본을 영상화하기위한 효과적인 도구입니다 (영문). 고급 기능 (Advanced Features) 과 기능을 통해 상세한 이미지를 얻을 수 있고, 다양한 분석을 통해 시편을 보다 잘 이해할 수 있습니다.
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