판매용 중고 HITACHI S-9380 #9244867

HITACHI S-9380은 전자 빔 분석을 위해 설계된 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경은 통합 된 정전기 렌즈와 우수한 매핑 성능 및 5 nm 해상도를위한 강력한 자석 구조를 가지고 있습니다. HITACHI S9380 은 첨단 이미징 기술, 매우 정확한 EDX 검출기 (detector) 및 자동화된 컴퓨터 제어 장비로, 광범위한 연구 분야를 위한 강력한 도구입니다. S 9380 은 고해상도 를 이루기 위해 정전기 "렌즈 '와 전자기" 코일' 을 사용 한다. 전자 공급원 은 "렌즈 '단위 를 통하여 전자 를 지도 하여 높은 정밀 영상 을 한다. 또한, 강한 양극, 2 쌍의 수직 및 수평 디플렉터 및 패러데이 컵 (Faraday cup) 이 전자 빔을 제어하는 데 사용됩니다. 이 머신은 일관된 이미지 품질을 보장하며, 샘플에 최적화된 스캔 설정 (scan setting) 을 적용할 수 있도록 합니다. S9380에 사용되는 EDX 검출기는 사용 가능한 가장 민감한 검출기 중 하나이며, 다양한 신호 처리 기능을 제공합니다. 이 검출기는 다른 전압과 각도에서 에너지 분산 X- 선 (EDX) 신호를 측정하여 샘플을 정확하게 특성화할 수 있습니다. EDX 검출기는 또한 in-situ 및 ex-situ 분석을 모두 수행 할 수 있습니다. 즉, 스캐닝 없이도 샘플을 연구 할 수 있습니다. HITACHI S 9380 은 또한 자동화된 컴퓨터 제어 툴을 통해 연구원들이 현미경을 쉽게 조정하고 조정할 수 있게 해 줍니다. 이 에셋을 통해 사용자는 빔 전류 (beam current), kV (kV), 스팟 크기 (spot size) 등 다양한 매개변수를 설정할 수 있습니다. 이를 통해 연구원들은 주제의 이미지를 가장 잘 캡처하기 위해 설정을 빠르고 쉽게 변경할 수 있습니다. 마지막으로, S-9380은 견고한 자석 구조로 만들어져 일관되게 부드럽고 정확한 스캐닝 프로세스를 보장합니다. 이를 통해 연구원들은 현미경으로 달성 할 수있는 고해상도를 극대화하고 광범위한 샘플에 대한 조사를 수행 할 수 있습니다 (영문). 결론적으로, HITACHI S-9380은 전자 빔 분석을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 현미경에는 정확한 결과를 보장하기 위해 통합 정전기 렌즈 모델, EDX 검출기 및 자동 컴퓨터 제어 장비가 있습니다. 강력한 자석 구조와 5 nm 해상도를 통해 연구자들은 다양한 물질에 대한 자세한 연구를 수행 할 수 있습니다.